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納米粒度電位儀可檢測(cè)納米顆粒的哪些特性？
BeNano 系列納米粒度電位儀是丹東百特儀器有限公司全新開發(fā)的測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù)SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布、Zeta電位、高分子和蛋白體系的分子量信息等等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析、質(zhì)量控制用途。