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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> 天星渦流測(cè)厚儀ED400
貨物所在地：上海上海市
產(chǎn)地：沈陽(yáng)天星
更新時(shí)間：2025-02-18 16:19:41
有效期：2025年2月18日 -- 2025年8月19日
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天星渦流測(cè)厚儀ED400
天星渦流測(cè)厚儀ED400（也稱涂層測(cè)厚儀、氧化膜測(cè)厚儀）適用于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。渦流測(cè)厚儀ED400采用磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、鎳）上非磁性覆層的厚度（如：鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等），本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍： 0～500μm
測(cè)量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
渦流測(cè)厚儀ED400配置與選配：
標(biāo)準(zhǔn)配置 主機(jī) 1臺(tái) | 可選附件 備用探頭 |
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