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NICOMP 380 Z3000納米粒徑與電位分析儀采用*進的設(shè)計理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計，充分有效地融合了動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳光散射(ELS)技術(shù)，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位。

產(chǎn)品特點：

1 測試粒徑范圍可選0.3nm-10um。

2 精確度高，重現(xiàn)性好，誤差小于1%。

3 Zeta電位運用了多普勒電泳遷移原理以及的相位分析散射法可以測試水相和有機相的樣品。

4 *的Nicomp和高斯兩種擬合粒徑分布。

5 的自動稀釋模塊，可自動將樣品濃度稀釋到適合檢測范圍。

6 操作非常簡單，樣品放入檢測池后輕松點擊圖標就可完成測試。

7 【USP729】檢測項目I推薦; 符合中國藥典2010版。

8 特為多組分不均勻體系設(shè)計。

9 模塊化設(shè)計便于維護和升級，可配搭多種功率光源和檢測器。