9
當前位置：珠海真理光學儀器有限公司>>納米粒度分析儀>> Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀
Nanolink SZ901的性能和主要特點包括：
◆ 經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm
◆ 激光多普勒電泳技術(shù)用于Zeta電位分析，可預知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團聚的傾向性
◆ 加持自動恒溫技術(shù)的功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用
◆ 激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)
◆ 信號光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)
◆ 集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器
◆ 常規(guī)溫度控制范圍可達-15°C~120°C,精度±0.1°C
◆ 新一代高速數(shù)字相關(guān)器，動態(tài)范圍大于1011
◆ 冷凝控制 – 干燥氣體吹掃技術(shù)
技術(shù)指標：
| 測量原理 | 動態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）、電泳光散射（ELS） |
| 粒徑測量角度 | 90°，12°（Zeta電位） |
| 粒徑測量范圍 | 0.3nm -15um* |
| 粒徑測量最小樣品量 | 3ul* |
| 粒徑測量最小樣品濃度 | 0.1mg/ml |
| 粒徑測量最大樣品濃度 | 40%/wv** |
| 檢測點位置 | 距入射點0~5mm可調(diào) |
| 檢測點定位精度 | 0.01mm |
| Zeta電位測量技術(shù) | 余弦擬合位相分析法（CF-PALS） |
| Zeta電位測量范圍 | 無實際限制 |
| 適用Zeta電位測量的粒徑 | 1nm - 120μm* |
| 遷移率范圍 | 最小0，最大無實際限制 |
| 最大電導率 | 270mS/cm |
| 電極 | 插入式平板電極、U型毛細管電極 |
| 分子量范圍 | 340Da - 2x107Da |
| 其它高級測量/計算功能 | 介質(zhì)粘度、折光率、樣品透過率/濃度、第二維利系數(shù)、顆粒間相互作用力系數(shù)和聚集度指數(shù) |
| 光源 | 集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的最大功率50mW, 波長638nm固體激光器 |
| 光強度調(diào)整范圍 | 自動調(diào)節(jié)，0.0001%～100% |
| 相關(guān)器 | 高速數(shù)字相關(guān)器，自適應通道配置 |
| 檢測器 | 高靈敏度APD |
| 溫度控制范圍 | -15°C ~ 120°C |
| 溫度控制精度 | ±0.1°C |
| 進樣方式 | 手動/自動 |
| 樣品池（選配） | 12mm比色皿、3μL毛細管超微量樣品池、40μL微量樣品池 |
| 環(huán)境要求 | 5-40℃，10%-80%相對濕度（無凝結(jié)） |
| 工作電源 | AC100V-240V，標準接地，直流電源供電24V/5A |
| 系統(tǒng)重量 | 20kg |
| 外形尺寸 | 430mm x 512mm x 230mm (LxWxH) (LxWxH) |
注：* 取決于樣品及樣品池選件 ** 取決于測量角度
