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篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀

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byk光澤度儀一機(jī)多用:光澤度和膜厚測量

2020-8-26  閱讀(1196)

微型三角度光澤儀 μ
光澤和厚度測量集于一身

高效的涂裝工藝是使用盡可能少的涂料來達(dá)到客戶要求的質(zhì)量規(guī)格。光澤和厚度是評估涂層質(zhì)量的重要參數(shù)。微型三角度光澤儀 μ 可在幾秒內(nèi)在同一個(gè)測量點(diǎn)上測量這兩個(gè)參數(shù),不僅節(jié)省時(shí)間而且在現(xiàn)場使用也十分理想 - 僅需攜帶一臺儀器。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn),以特定折光指數(shù)(通常為: 1.567)的黑色玻璃標(biāo)準(zhǔn)板的反射值為100光澤單位。反射儀通常有多個(gè)不同入射角度的光源結(jié)構(gòu)。標(biāo)準(zhǔn)的角度是20º, 60º和85º。

涂料,油漆,塑料以及類似材料:

根據(jù)以下不同領(lǐng)域的應(yīng)用使用不同的測量角度:
中光澤表面使用60º測量角,測量范圍在10到70GU(光澤單位)范圍內(nèi)。
對于用60º測量度數(shù)超過70GU的高反射表面,需使用20º測量角測量。
對于用60º測量度數(shù)超過10GU的粗糙的表面,需使用85º測量角測量。

陽極電鍍鋁和其它金屬表面:

儀器具有更大的測量范圍用于測量非常高光澤的樣品。
非金屬材料表面的反射率會隨入射角加大而提高,金屬的反射特性并不于此相似。因?yàn)橛卸畏瓷?,即一部分光被涂層表面反射,另一部分被底部的金屬反射。為了得到這些表面的全部反射特性,建議在他們上面測量全部的角度。除了可以查看以黑色玻璃標(biāo)準(zhǔn)板為參考的( GU 光澤單位), 還能以金屬領(lǐng)域內(nèi)的反射光的數(shù)量為參考的 % (反射率)。您能在標(biāo)尺菜單中進(jìn)行選擇。
注釋:正確的測量只能在平整的表面進(jìn)行。
不能在有灰塵,劃傷或在測試樣板彎曲的部位進(jìn)行測量,如需測量也只能通過測量光澤平均值的方法度量樣品的損壞程度。此外由于測試樣品的表面不均質(zhì),測量的光澤不是恒定。故只能在樣品
的不同部位進(jìn)行測量并計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)偏差。如果樣品具有明顯的結(jié)構(gòu)或光澤的特性具有方向性,這種結(jié)構(gòu)特性和入射光的方向必須在測試報(bào)告中注明。例如一些需要測量多次才能通過審核(例如:風(fēng)化樣品)的樣品必須在樣品上標(biāo)注記號以確保每次在相同的點(diǎn)測量,使測量具有重復(fù)性。

膜厚測量:

膜厚探頭的功能是根據(jù)電磁感應(yīng)方式(Fe)或電渦流方式(NFe)。 因此測量結(jié)果在高磁場或電磁波的環(huán)境下產(chǎn)生偏差。測量的膜厚受到磁性( Fe)或非磁性(NFe)金屬基材厚度的影響。測量結(jié)果還會受到諸如復(fù)合物或底材熱處理的影響發(fā)生偏差。應(yīng)此推薦在沒有涂層的產(chǎn)品上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)后再進(jìn)行樣品測量。對于粗糙的表面也會影響涂層厚度的測量。為了降低隨機(jī)誤差,建議使用多點(diǎn)測量法。
如果是在附有非磁性金屬層的磁性基材(例如:鍍鋅鐵板)上測量涂層膜厚,請注意以下幾點(diǎn):
● 用于NFe設(shè)置,基材厚度至少50µm。( 例如非磁性涂層)
● 用于Fe設(shè)置,非磁性涂層厚度已包含在測量結(jié)果中。


 



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