篤摯儀器(上海)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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2020-11-30 閱讀(4566)
儀器使用:
1.開機(jī):
裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí),儀器將 自動(dòng)開機(jī)。(使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí),禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭,以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起,離開被測(cè)物 10cm 以上,再進(jìn)行下次測(cè)量。)
設(shè)置:
開機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單,QNix®4500 為 4 個(gè)選項(xiàng),QNix®4500 為 2 個(gè)選 項(xiàng),見下圖:
“Fe”為磁性金屬基體模式,“NFe”為非磁性金屬基體模式(僅 QNix®4500), “Fe/NFe”為自動(dòng)識(shí)別基體模式(僅 QNix®4500),“取平均值”為儀器自動(dòng)顯示 *后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測(cè)量)。 按紅鍵進(jìn)入菜單后,繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇,將光標(biāo)在選項(xiàng)上停留 2 秒后,進(jìn) 入所選項(xiàng)目。如在“Fe”選項(xiàng)上停留 2 秒后,儀器顯示如下:
這時(shí)儀器進(jìn)入 Fe(磁性金屬基體)模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe(非 磁性金屬基體)、Fe/NFe(磁性非磁性基體自動(dòng)識(shí)別)模式下工作。 進(jìn)入“取平均值”選項(xiàng)后,儀器顯示如下:
在“開”選項(xiàng)上停留 2 秒后,取平均值開啟,測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為*后三次讀 數(shù)的平均值(包括本次測(cè)量),測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“ X — ”符號(hào)時(shí)表示取平 均值開啟,如不需要請(qǐng)關(guān)閉(在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)”)即可。
2、測(cè)量:
(1)調(diào)零:
儀器在測(cè)量前,應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零,因?yàn)椴牧现g導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同,會(huì)造成一定誤差。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后,將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上, 不要抬起,按一下儀器上的紅鍵松開,儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、 “零位參照,拿起探頭”或聽到儀器響聲后,拿起儀器,出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽到響 聲后,液晶顯示 0,調(diào)零完畢。 注意:由于工件表面粗糙度等原因,調(diào)零后,再測(cè)時(shí)不一定是的零位, 這是正?,F(xiàn)象。
(2)測(cè)量
將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面,儀器將自動(dòng)測(cè)出并顯示數(shù)據(jù)。(建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用,分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用)
注意:測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面、并壓實(shí),每測(cè)量一次后將 儀器拿起,離開被測(cè)物 10 ㎝以上,再進(jìn)行下一點(diǎn)測(cè)量。
分體型說(shuō)明: QNix®4200P、QNix®4200P5、QNix®4500P、QNix®4500P5 采用有線分體型設(shè) 計(jì),測(cè)量方便、穩(wěn)定、準(zhǔn)確,探頭連接線堅(jiān)固耐用,還可滿足一些狹小空間的測(cè) 量。探頭線和探頭可更換
QNix®4200/4500 測(cè)厚儀采用良好的電子技術(shù),能滿足各種不同的測(cè)量要 求。高精度的設(shè)備,堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。 只要正確使用和維護(hù),它的壽命會(huì)很長(zhǎng)。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性 和便于挪動(dòng)的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測(cè)量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴 露在強(qiáng)烈的陽(yáng)光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對(duì)大多數(shù)溶劑具有抵抗性, 但不能保證極少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所 以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長(zhǎng)期不被使用時(shí), 為 避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時(shí),請(qǐng)不要自行修理,我們的維修部門 隨時(shí)竭誠(chéng)為您服務(wù)。 產(chǎn)品從購(gòu)買之日起保修一年,紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予 保修。
1.測(cè)量應(yīng)為點(diǎn)接觸,嚴(yán)禁將探頭置于被測(cè)物表面滑動(dòng)。
2.出現(xiàn) INFI 時(shí),有可能是由于測(cè)量基體選擇錯(cuò)誤造成的,請(qǐng)選擇測(cè)量基體 Fe、NFe 或自動(dòng)識(shí)別 Fe/NFe,如未能解決,可能是因?yàn)闇y(cè)量不同材料零位差距過 大造成,選擇正確測(cè)量基體重新調(diào)零即可。
3.因國(guó)家地區(qū)所用厚度單位不同,在中國(guó)銷售的 Qnix4500/4200 型使用的是 μ m,因此屏蔽了英制單位 mil,有時(shí)因操作不當(dāng)激活 mil 單位,此時(shí)用戶只需復(fù) 位即可,復(fù)位過程為先把電池取下,然后按住紅鍵裝上電池,復(fù)位完成后松開紅 鍵即可。
顯示說(shuō)明: Fe:磁性基體模式 NFe:非磁性基體模式 INFI:基體選擇錯(cuò)誤或超出量程