QuaNix4200/4500鍍層測厚儀是利用霍爾原理而設計的探頭與主機一體化式金屬涂層測厚儀。QuaNix4200用于測量鐵磁性基體(如鋼、鐵)上的涂層，如油漆、各種防腐層、粉噴涂等。QuaNix4500帶Fe/NFe兩用探頭，既可用于測量磁性基體，又可測量非磁性基體如銅、鋁、合金等上的涂層。
二、測量
將儀器探頭垂直接觸被測物的表面，儀器將自動開機并測得數(shù)據(jù)。注意：測量時務必要使探頭垂直接觸被測物表面。
三、調(diào)零
儀器在測量前，為減少測量誤差，應在基體上取零位作基準?？梢杂脹]有涂層的工件表面也可以用隨儀器帶基體。用儀器測量基體，如顯示0，表明已是零位，不用再調(diào)零。如不顯示0，則需要調(diào)零。將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，液晶顯示一組數(shù)后，拿開儀器，液晶顯示0，調(diào)零完畢。注意：由于工件表面粗糙度的原因，調(diào)零后，再測時不一定是的零位，這是正常現(xiàn)象。
四、Fe/NFe探頭轉(zhuǎn)換
QuaNix4500為兩用探頭，當測量不同的基體時，需要對磁性模式(Fe)與非磁性模式(NFe)進行轉(zhuǎn)換。在開機狀態(tài)下，按紅鍵進入菜單選項，繼續(xù)按紅鍵選擇Fe或者Nfe選項短暫停留后，就已選擇相應的測量模式，也可以選擇FeNfe選項，短暫停留后就進入自動識別基體模式(推薦使用)！
五、顯示
Fe：測量鐵磁性基體模式
NFe：測量非磁性基體模式
Err：操作失誤
INFI：探頭模式與被測基體不符
BAT：電量不足，需換電池
六、維護和維修
QNix 4500鍍層測厚儀電采用良好的電子技術(shù),能滿足各種不同的測量要求。高精度的設備,堅固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應用。只要正確使用和維護,它的壽命會很長。儀器需要保持清潔,不要摔落, 避免與潮氣,具有化學腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應被放回具有保護性和便于挪動的盒子中。溫度的劇烈變 化將影響測量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴露在強烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數(shù)溶劑具有抵抗性,但不能保證極少數(shù)化學物質(zhì)的腐蝕,這時處理的方法僅僅是用一塊潮濕,柔軟的布擦洗儀器。只有探針保持清潔,才能獲得準確的數(shù)據(jù),所以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長期不被使用時,為避免因漏電而 損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時,請不要自行修理,我們的維修部門隨時竭誠為您服務。
QNix 4500電常規(guī)型
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關(guān)和標準中稱為覆層(coating)。
覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。
