篤摯儀器(上海)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-08-30 07:30:27瀏覽次數(shù):1489
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測(cè)定材料 | 金屬硬度計(jì) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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儀器類型 | 便攜式 |
EQUOTIP 550 硬度計(jì)瑞士*
結(jié)合 Equotip Portable Rockwell 探頭,Equotip 550 可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法。 這將能夠在 現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值。
新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設(shè)計(jì)的界面,提高了檢測(cè)效率和改善用戶體驗(yàn)。 改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)?、自?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。 此外,該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。
1.里氏硬度計(jì)(Dietmar Leeb)
里氏硬度是根據(jù)的里氏硬度測(cè)試原理利用的微處理器技術(shù)設(shè)計(jì)而成。
2.布氏硬度(HB)以一定的載荷(一般3000kg)把一定大小(直徑一般為10mm)的淬硬鋼球壓入材料表面,保持一段時(shí)間,去載后,負(fù)荷與其壓痕面積之比值,即為布氏硬度值(HB),單位為公斤力/mm2 (N/mm2)。
3.洛氏硬度計(jì)
(HR)當(dāng)HB>450或者試樣過(guò)小時(shí),不能采用布氏硬度試驗(yàn)而改用洛氏硬度計(jì)量。它是用一個(gè)頂角120°的金剛石圓錐體或直徑為1.59、3.18mm的鋼球,在一定載荷下壓入被測(cè)材料表面,由壓痕的深度求出材料的硬度。根據(jù)試驗(yàn)材料硬度的不同,分三種不同的情況
HRA:是采用60kg載荷和鉆石錐壓入器求得的硬度,用于硬度*的材料(如硬質(zhì)合金等)。
HRB:是采用100kg載荷和直徑1.58mm淬硬的鋼球,求得的硬度,用于硬度較低的材料(如退火鋼、鑄鐵等)。
HRC:是采用150kg載荷和鉆石錐壓入器求得的硬度,用于硬度很高的材料(如淬火鋼等)。
4. 維氏硬度(HV)
以120kg以內(nèi)的載荷和頂角為136°的金剛石方形錐壓入器壓入材料表面,用載荷值除以材料壓痕凹坑的表面積,即為維氏硬度值(HV)。
5 努氏硬度(HK)
適用于高硬度材料的硬度測(cè)試(一般HV1000硬度以上的硬度測(cè)量)。
6.還有肖氏硬度計(jì)
7.韋氏硬度計(jì)(HW)
適用于鋁合金類產(chǎn)品的韋氏硬度值測(cè)量。
8 石膏硬度計(jì)
適用于建筑石膏硬度測(cè)量,將鋼球置于試件上,測(cè)量在固定荷載作用下球痕的深度,經(jīng)計(jì)算得出試件的石膏硬度。
以上硬度只是常用的幾種,另外還有肖氏(HS)硬度、邵氏(HS)硬度、巴氏硬度、摩氏硬度等。實(shí)踐證明,金屬材料的各種硬度值之間,硬度值與強(qiáng)度值之間具有近似的相應(yīng)關(guān)系。因?yàn)橛捕戎凳怯善鹗妓苄宰冃慰沽屠^續(xù)塑性變形抗力決定的,材料的強(qiáng)度越高,塑性變形抗力越高,硬度值也就越高。
Equotip 550可以作為設(shè)備*定制,并可同時(shí)顯示三種不同的測(cè)量視圖。 只需點(diǎn)擊與每個(gè)屏幕右上角的特定顯示相關(guān)的圖標(biāo)即可切換每個(gè)視圖以滿足用戶的要求。
信號(hào)視圖:顯示上一次有效測(cè)量的探頭信號(hào)。這對(duì)于評(píng)估可能是有用的。
統(tǒng)計(jì)視圖:查看主動(dòng)測(cè)量系列的統(tǒng)計(jì)信息。
影響數(shù)(n),平均值(x),標(biāo)準(zhǔn)偏差(σ),zui小值/zui大值(?)和范圍(?)顯示在主刻度中。
表格視圖:以表格格式顯示活動(dòng)系列的測(cè)量。
轉(zhuǎn)換視圖:顯示轉(zhuǎn)換曲線上的實(shí)際值。
條形圖:將直方圖顯示為系列的尺寸。
配置文件視圖:將測(cè)量結(jié)果顯示為配置文件。
信息:顯示測(cè)量設(shè)置,例如系列長(zhǎng)度,探頭類型,材料組等
用戶視圖:用戶可以選擇探頭角度,zui小值,zui大值,范圍和探頭類型。要更改,請(qǐng)點(diǎn)擊每個(gè)單獨(dú)的框。
HL單記錄視圖:顯示主要和次要硬度標(biāo)度的zui后一個(gè)或選定的測(cè)量結(jié)果。
ID + Sample ID:定義自定義字段。
文件名:輸入文件名并點(diǎn)擊返回。 保存的測(cè)量將被自動(dòng)存儲(chǔ)。 如果文件管理激活,則此功能被鎖定。
影響方向:如果需要手動(dòng)設(shè)置影響方向(僅限Leeb,默認(rèn)情況下為自動(dòng))。
材質(zhì):選擇要用于轉(zhuǎn)換的材料組(不適用于Leeb U)
測(cè)量刻度:選擇要顯示的硬度刻度(主要和次要)(不適用于Leeb U)
測(cè)量模式:在測(cè)量和轉(zhuǎn)換之間切換。
時(shí)間和電池狀態(tài)
設(shè)置:直接設(shè)置菜單的快捷方式。 (僅適用于實(shí)際測(cè)量系列)
保存:存儲(chǔ)測(cè)量數(shù)據(jù)
刪除:刪除zui后一次測(cè)量。
重做:重新開始測(cè)量系列或單次測(cè)量。
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