篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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更新時間:2024-09-01 07:06:37瀏覽次數(shù):1988
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觸發(fā)式測頭測量離散的點,是檢測三維幾何工件的理想選擇。雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng),既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測,也可在數(shù)控高速機器上進行復雜輪廓測量。
TP200系統(tǒng)組件包括:
具有模塊交換功能的超小型測頭,它使用應變片機構,比機械結構式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高。還有一種EO模塊(長過行程),過行程測力與SF相同,但工作范圍更大,并在測頭Z軸方向提供保護。
TP200采用微應變片傳感器,實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和準確的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性,并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術與TP200相同,但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。
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