篤摯儀器(上海)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-09-02 19:31:00瀏覽次數(shù):949
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
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CMS2特征
? 大尺寸高分辨率的彩色顯示器
? 簡(jiǎn)單的操作和圖示的用戶指導(dǎo)
? 使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)化測(cè)量
? 電解速度和測(cè)量面積的簡(jiǎn)單選擇
? 電壓曲線圖形顯示
? 圖形和統(tǒng)計(jì)分析
? 多語(yǔ)言和計(jì)量單位可供選擇
CMS2 STEP特殊功能
? 同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
? 銀參比電極的簡(jiǎn)單準(zhǔn)備
? 可調(diào)節(jié)的電解電流
COULOSCOPE CMS2介紹 | |
作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之-一,庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu),當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí),它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。 | |
COULOSCOPE CMS2的應(yīng)用實(shí)例:電鍍緊固件,測(cè)量PCB板上的剩余純錫厚度,鍍鉻件以及浴室用品 | |
測(cè)量原理: | ||
這個(gè)系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫(kù)侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過(guò)在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過(guò)程。所載入的電流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的,假如電流和剝離面積保持不變,鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。 | 下面的公式適用于通過(guò)庫(kù)侖法電解腐蝕確定鍍層厚度: 測(cè)量槽------可比作微型電解缸------被用來(lái)剝離鍍層。 測(cè)量面積由裝在測(cè)量槽上的墊圈尺寸來(lái)決定。對(duì)不同的金屬采用不同配方的電解液。 通過(guò)載入電流開(kāi)始電解過(guò)程。電解過(guò)程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制, 用一個(gè)泵攪拌電解液來(lái)使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕,保證電解液利用。 根據(jù)測(cè)量區(qū)域的大小,各種直徑的墊圈可供選擇。 | |
COULOSCOPE CMS2 STEP介紹 | ||
STEP Test 是在允許腐蝕的情況下用來(lái)同時(shí)測(cè)量電位差和多層鎳的鍍層厚度, 該方法是這個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)。 多層鎳鍍層的品質(zhì)控制需要能在電鍍完成后立刻檢查厚度和電位差的儀器。 COULOSCOPE CMS2 STEP 就是為這個(gè)目的而設(shè)計(jì)的,它操作簡(jiǎn)單,參比電極使用起來(lái)也不復(fù)雜,非常適合電鍍工廠苛刻環(huán)境下的這種應(yīng)用。 電鍍鎳層用作電解保護(hù)和提高機(jī)器表面屬性,如硬度等。特別是汽車工業(yè)中,電鍍鎳部件在防腐蝕方面要滿足很高的要求。單一鎳層無(wú)法滿足該要求。因此,目前正在開(kāi)發(fā)非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),其中包含兩層、三層甚至四層鍍鎳層,還有鉻或銅鍍層。 |
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測(cè)量原理:
STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)(同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和化學(xué)電位差)的簡(jiǎn)寫(xiě), 是已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化很久的測(cè)量方法。它可以同時(shí)測(cè)量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學(xué)電位差。 厚度測(cè)量時(shí)用庫(kù)侖法來(lái)測(cè)量,電位差通過(guò)外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來(lái)測(cè)量。電壓曲線可以顯示在屏幕上,鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。
為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測(cè)量結(jié)果,參比電極到工件的距離必須始終保持不變。 這個(gè)問(wèn)題通過(guò)特殊的測(cè)量槽得到解決。銀參比電極被設(shè)計(jì)成一個(gè)圓錐形的環(huán)狀電極,并作為測(cè)量槽底部的外殼與測(cè)量槽蓋連接。測(cè)量槽的設(shè)計(jì)保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。銀參比電極被設(shè)計(jì)成一個(gè)圓錐形的環(huán)狀電極,并作為測(cè)量槽底部的外殼與測(cè)量槽蓋連接。測(cè)量槽的設(shè)計(jì)保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。