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當前位置：北京歐屹科技有限公司> 供求商機> PA-200-應(yīng)力雙折射儀，相位差測量儀
高速雙折射測量 PA-200，PA-200-L
低相位差（如玻璃）的全面測試
針對相位差差別比較小的樣品，要求測量速度高的應(yīng)用，專門開發(fā)了PA系列的產(chǎn)品，測量速度快是核心。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。
產(chǎn)品特點：
曲線圖功能
CSV格式輸出
軸相位差顯示
縮放鏡頭功能
l 用于低相位差樣品測試的標準系統(tǒng)。
l 適用于檢測玻璃的應(yīng)力或者透明晶片（如藍寶石、SiC和GaN）的內(nèi)部缺陷。
型號 | PA-200 | PA-200-L |
測量范圍 | 0-130nm | |
重復(fù)性 | <1.0nm | |
像素數(shù) | 1120x868 | |
測量波長 | 520nm | |
尺寸 | 310x395x605.5mm | 450x538x915.5mm |
觀測到的zui大面積 | 100x136mm | 250x300mm |
重量 | 18kg | 24kg |
數(shù)據(jù)接口 | GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制） | |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） | |
軟件 | PA-View | |
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