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WPA-KAMAKIRI-onlinez雙折射測量儀
  • WPA-KAMAKIRI-onlinez雙折射測量儀
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貨物所在地：北京北京市

所在地： 日本

更新時間：2024-11-08 21:00:07

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歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備，其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片完美結(jié)合，研制在線雙折射/殘余應力測量儀，世界上僅有onlinez雙折射測量儀KAMAKIRI可以提供，廣泛應用于光學薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領域。

 

WPA-KAMAKIRI


主要特點：

  • 可用來評估高相位差產(chǎn)品，PET薄膜和樹脂成品
  • 三波長測定雙折射范圍可達3000nm
  • 可選配高相位差配件，滿足10000nm的超過相位差測定需求


應用領域：

  • 相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
  • 保護薄膜（PET/PEN/PS/PI）
  • 樹脂成型
  • 玻璃


主要參數(shù)：

項次

項目

具體參數(shù)

1

輸出項目

相位差【nm】，軸方向【°】

 

2

測量波長

523nm、543nm、575nm

 

3

雙折射測量范圍

0-3000nm

 

4

主軸方位范圍

0-180°

 

5

測量重復精度

<1nm

 

6

測量尺寸

97×77mm ～ 2900×2310mm

 

7

定制選項

光學配件，可測量超過10000nm的高相位差










 






 

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