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參考價(jià)	面議

光隔離探頭

TIVH

TIVP系列

OPB6000

OPL6000

OP6000

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子,航天,汽車,電氣

示波器光隔離探頭TIVP1發(fā)現(xiàn)非隔離探頭隱藏的快速震蕩的信號(hào)。IsoVu™ 探頭技術(shù)實(shí)際上通過光學(xué)隔離消除了共模干擾。這樣就可以按 100V/ns 或更快的速度在 ±60kV 的基準(zhǔn)電壓上提供精確的差分測量。借助我們的 IsoVu Generation 2 設(shè)計(jì)，您能獲得 IsoVu 技術(shù)的所有優(yōu)勢，但大小僅為原來探頭尺寸的 1/5。

詳細(xì)介紹

一、示波器光隔離探頭TIVP1概述

IsoVu 光隔離探頭發(fā)現(xiàn)非隔離探頭隱藏的快速震蕩的信號(hào)。IsoVu™ 探頭技術(shù)實(shí)際上通過光學(xué)隔離消除了共模干擾。這樣就可以按 100V/ns 或更快的速度在 ±60kV 的基準(zhǔn)電壓上提供精確的差分測量。借助我們的 IsoVu Generation 2 設(shè)計(jì)，您能獲得 IsoVu 技術(shù)的所有優(yōu)勢，但大小僅為原來探頭尺寸的 1/5。

IsoVu Gen 2 探頭憑借多功能 MMCX 連接器以及帶寬、動(dòng)態(tài)范圍和共模抑制組合，為隔離探頭技術(shù)設(shè)定新的標(biāo)準(zhǔn)。

示波器光隔離探頭TIVP1

二、示波器光隔離探頭TIVP1應(yīng)用

（1）開關(guān)模式電源設(shè)計(jì)

（2）寬禁帶 GaN 和 SiC 設(shè)備的功率 FET 設(shè)計(jì)/分析

（3）逆變器設(shè)計(jì)

（4）電機(jī)驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)

（5）BCI 或 ESD 測量

（6）電流分流器測量

三、全新升級(jí)

對于傳統(tǒng)差分探頭，您必須在高帶寬和高電壓之間做出選擇。IsoVu 探頭采用屏蔽同軸電纜和隔離功能，提供高帶寬和 ±2500V 的差分電壓范圍。

第二代IsoVu TIVP探頭提供 200 MHz、500 MHz 和 1 GHz 的一系列帶寬，以適合您的預(yù)算并構(gòu)建具有特定項(xiàng)目所需性能的工作平臺(tái)。

四、技術(shù)參數(shù)

型號(hào)	帶寬	差分電壓	共模電壓	共模抑制比	光纖電號(hào)纜長度號(hào)
TIVP02	200 MHz	±2500 V	±60kV	直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB	2 米
TIVP02L	200 MHz	±2500 V	±60kV	直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB	10 米
TIVP05	500 MHz	±2500 V	±60kV	直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB	2 米
號(hào)TIVP05L號(hào)	號(hào)500 MHz號(hào)	號(hào)±2500 V號(hào)	號(hào)±60kV號(hào)	直流：160dB 號(hào)100 MHz：100 dB號(hào) 200 MHz：100 dB	10 米
TIVP1	1 GHz	±2500 V	±60kV	直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB	2 米
TIVP1L	1 GHz	±2500 V	±60kV	直流：160dB 100 MHz：100 dB 200 MHz：100 dB	10 米

五、自動(dòng)化測試和調(diào)試

高速數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)正在迅速發(fā)展，以支持?jǐn)?shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)世界的性能需求。下一代串行標(biāo)準(zhǔn)和數(shù)據(jù)通信要求帶來了新的測試挑戰(zhàn)，突破了當(dāng)今合規(guī)性和調(diào)試工具的極限。泰克提供示波器+探頭自動(dòng)化電氣測試解決方案，以優(yōu)化性能、加快驗(yàn)證周期并加速產(chǎn)品上市。

六、其它產(chǎn)品

System SourceMeter®10 µs 脈沖發(fā)生器/源測量單元 (SMU) 儀器將高電流/高速脈沖發(fā)生器的功能與傳統(tǒng) SMU 的測量及全部功能集于一臺(tái)儀器中。其優(yōu)異的 10 A @ 10 V 快達(dá)10 μs 脈沖寬度和全 1 MS/s 數(shù)字化功能極大地提升了從臺(tái)式檢定到高度自動(dòng)化脈沖式 I-V 生產(chǎn)測試等應(yīng)用的效率。