詳細(xì)介紹
近場(chǎng)探頭EM5030
近場(chǎng)探頭EM5030主要用于電子產(chǎn)品的電磁場(chǎng)測(cè)量,實(shí)現(xiàn)干擾源快速位,多種形狀的探頭,寬頻率范圍,可以完成多種的電磁場(chǎng)測(cè)試任務(wù)。配套使用的放大器,增益約20dB,可提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度!廣泛應(yīng)用于檢測(cè)器件或者是表面的磁場(chǎng)方向及強(qiáng)度;機(jī)箱、線纜、PCB模塊等磁場(chǎng)泄露情況;甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線,從而判斷干擾產(chǎn)生的原因,提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)水平,縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。
近場(chǎng)探頭通過移動(dòng)探頭可檢測(cè)磁場(chǎng)方向和分布,找出干擾源,提高EMC整改效率。具有寬頻率范圍,多種探頭,可以滿足多種電磁場(chǎng)測(cè)試任務(wù),其中的無源探頭可匹配頻譜儀/接收機(jī)示波器50Ω輸入端被,方便檢查磁場(chǎng)或電流變化。近場(chǎng)探頭使用方便,安裝快捷,定位干擾源。
【近場(chǎng)探頭產(chǎn)品規(guī)格】
【 前置放大器規(guī)格】