詳細(xì)介紹
一、SIGLENT/鼎陽(yáng) SNA5084X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀?概述
SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(Vector Network Analyzer),其測(cè)量頻率高達(dá)8.5GHz,支持4端口S參數(shù)測(cè)量,差分(平衡)測(cè)量,時(shí)域測(cè)量,濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測(cè)量,支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展功能,支持極限測(cè)試、紋波測(cè)試功能,支持夾具仿真和去嵌入功能,支持線性頻率掃描、對(duì)數(shù)頻率掃描、分段頻率掃描、線性功率掃描方式,支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等校準(zhǔn)方法,可廣泛應(yīng)用于濾波器,雙工器,天線,有源器件,射頻線纜等領(lǐng)域的研發(fā),生產(chǎn)制造。
二、SIGLENT/鼎陽(yáng) SNA5084X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀??主要特性
1、頻率范圍:9 kHz ~ 4.5/8.5 GHz
2、輸出功率設(shè)置范圍: -55 dBm ~ +10 dBm
3、動(dòng)態(tài)范圍:125dB
4、支持2/4端口S參數(shù)測(cè)量、差分(平衡)測(cè)量、時(shí)域分析
5、支持濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測(cè)量
6、支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展、夾具仿真和去嵌入功能
三、主要特點(diǎn):消除夾具效應(yīng)
在微波射頻領(lǐng)域,如何有效消除有害的測(cè)試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對(duì)SMD器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)需要特定的測(cè)試夾具實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器測(cè)試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接,導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果中包含了測(cè)試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測(cè)試夾具影響的方法主要有:端口延伸,端口匹配,端口阻抗轉(zhuǎn)換,去嵌入,適配器移除等。??
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四、規(guī)格參數(shù)
型號(hào) | 頻率范圍 | 端口數(shù) | 動(dòng)態(tài)范圍 | 跡線噪聲 | 輸出功率范圍 |
SNA5052X | 9kHz~4.5GHz | 2 | 10Hz~3MHz | 125dB | 0.003dB rms,0.05°rms |
SNA5082X | 9kHz~8.5GHz | 2 | 10Hz~3MHz | 125dB | 0.003dB rms,0.05°rms |
SNA5054X | 9kHz~4.5GHz | 4 | 10Hz~3MHz | 125dB | 0.003dB rms,0.05°rms |
SNA5084X | 9kHz~8.5GHz | 4 | 10Hz~3MHz | 125dB | 0.003dB rms,0.05°rms |