首頁 >> 公司動(dòng)態(tài) >> 固體所在硒膠體相變的原位動(dòng)態(tài)光譜監(jiān)測(cè)方面取得進(jìn)展
近期,固體所納米材料與納米結(jié)構(gòu)實(shí)驗(yàn)室的梁長浩研究員課題組基于自主搭建的“液相亞穩(wěn)納米顆粒原位動(dòng)態(tài)光譜分析平臺(tái)”,在不同溶劑中硒(Se)納米材料生長與相變的液相原位動(dòng)態(tài)光譜監(jiān)測(cè)方面取得進(jìn)展,相關(guān)研究成果以全文的形式發(fā)表在Applied Surface Science(Appl.Surf.Sci. 466, 1000-1006(2019))雜志上。
Se的制備、相轉(zhuǎn)變與原位光譜監(jiān)測(cè)示意圖
實(shí)現(xiàn)對(duì)亞穩(wěn)納米顆粒本征生長過程的動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)與分析是理解納米晶形成機(jī)制的關(guān)鍵,這對(duì)于進(jìn)行原子、分子水平上納米結(jié)構(gòu)的制備與物性調(diào)控是重要的技術(shù)支持。盡管現(xiàn)有的液相原位透射電子顯微鏡和原位X射線衍射等技術(shù)由于具有空間分辨率高等特點(diǎn),為探究液相體系中納米材料的成核與生長機(jī)制提供了重要的研究手段,但仍然存在一定的局限性,例如時(shí)間分辨率不高、原位監(jiān)測(cè)的樣品數(shù)量有限等;此外,高能量的電子束或X射線對(duì)亞穩(wěn)納米顆粒而言是外加能量源,會(huì)干擾納米晶的本征生長,影響原位動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)與分析。
基于此,固體所納米材料與納米結(jié)構(gòu)實(shí)驗(yàn)室的梁長浩研究員課題組通過自主設(shè)計(jì),搭建了“液相亞穩(wěn)納米顆粒原位動(dòng)態(tài)光譜分析平臺(tái)”,用于揭示亞穩(wěn)納米顆粒尺寸、結(jié)構(gòu)和物性的變化規(guī)律,為液相激光熔蝕技術(shù)制備納米晶生長的控制與亞穩(wěn)相的捕獲提供科學(xué)依據(jù)和關(guān)鍵技術(shù)支撐。
以Se膠體為例,為避免表面活性劑、反應(yīng)殘留離子對(duì)納米晶生長造成的干擾,課題組研究人員先采用液相激光熔蝕技術(shù)在去離子水中熔蝕Se靶,得到了紅色無定形態(tài)的a-Se納米膠體溶液。隨后將Se納米顆粒離心收集,再分別分散到三種不同的極性非質(zhì)子溶劑二甲基甲酰胺(DMF)、丙酮(CP)和乙酸乙酯(EAC)中陳化生長。利用平臺(tái)中的液相原位拉曼光譜監(jiān)測(cè)發(fā)現(xiàn)(圖2),隨著陳化過程的進(jìn)行,三種溶劑中a-Se(252cm-1)逐漸減少,t-Se(237cm-1)逐漸增加。通過對(duì)t-Se拉曼峰強(qiáng)度與陳化時(shí)間之間關(guān)系進(jìn)行分析模擬,研究人員觀察到不同溶劑中Se的相變速率是不同的。三種溶劑中,Se相變速率大小為DMF>CP>EAC。進(jìn)一步對(duì)t-Se(237cm-1)拉曼峰強(qiáng)度和陳化時(shí)間的散點(diǎn)圖進(jìn)行函數(shù)擬合,結(jié)果表明,不同溶劑中,從a-Se到t-Se的相變生長速率與時(shí)間呈冪函數(shù)關(guān)系,且與溶劑分子極性呈正相關(guān)關(guān)系。
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