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E+H超聲波物位探頭類

E+H超聲波物位探頭由超聲波探頭和主機(jī)兩部組成，是種的非接觸式物位測量儀器，超聲波探頭直接安裝在被測介質(zhì)的上方。用來取代原始的各種液位計(jì)，它采用小盲區(qū)收發(fā)體式超聲波探頭，通過測量時間差的原理，經(jīng)主機(jī)上微器進(jìn)行信號精密計(jì)算，測得液位，料位高低，并帶有多種信號輸出可供選擇。

　　E+H超聲波物位探頭的測量原理：

　　工作原理是由換能器(探頭)發(fā)出超聲波脈沖遇到被測介質(zhì)表面被反射回來，部反射回波被同換能器接收，轉(zhuǎn)換成電信號。

　　超聲波脈沖以聲波速度傳播，從發(fā)射到接收到超聲波脈沖所需時間間隔與換能器到被測介質(zhì)表面的距離成正比。

　　此離值S與聲速C和傳輸時間T之間的關(guān)系可以用公式表示：S=C×T/2由于發(fā)射的超聲波脈沖有定的寬度，使得距離換能器近的小段區(qū)域內(nèi)的反射波與發(fā)射波重迭，無法識別，不能測量其距離值，這個區(qū)域稱為測量盲區(qū)，盲區(qū)的大小與超聲波液位計(jì)的工作頻率有關(guān)。測量的基準(zhǔn)面試探頭的下邊沿。

　　E+H超聲波物位探頭的類型：

　　直探頭：產(chǎn)生的超聲波為垂直于探頭表面的縱波聲速。直探頭的用途非常廣泛，典型的用途包括鍛件、鑄件、棒材、板材、軸類等。

　　斜探頭：進(jìn)行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。斜探頭由斜塊、壓電晶片、吸聲材料、外殼、插座等組成。

　　進(jìn)行垂直探傷用的單晶片探頭，主要用于縱波探傷。直探頭由插座、外殼、保護(hù)膜、壓電晶片、吸聲材料等組成。

　　小晶片探頭：（直徑<=12mm），探頭線接口為Q6插座，其他晶片探頭，探頭線接口為Q9插座。

　　雙晶探頭：裝有兩個晶片的探頭，個作為發(fā)射器，另個作為接收器。又稱割式探頭、或者聯(lián)合雙探頭。雙晶探頭主要由插座、外殼、隔聲層、發(fā)射晶片、接收晶片、延遲塊等組成。

　　表面波探頭：發(fā)射和接收表面波的探頭。表面波是沿工件表面?zhèn)鞑サ牟ǎ惦S表面下的深度迅速減少，傳播速度是橫波的0.9倍，質(zhì)點(diǎn)的振動軌跡為橢圓。表面波探頭在被檢工件的表面和近表面產(chǎn)生表面波。

　　路軌探頭：含保護(hù)靴（膜）、探頭芯和探頭線的整體探頭，用于在役鋼軌野外探傷作業(yè)，配套多通道A型顯示鋼軌超聲波探傷儀