兩探針電阻率測(cè)試儀(測(cè)鍺錠)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀是按照我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針法”設(shè)計(jì)。它適合于測(cè)量模截面尺寸是可測(cè)量的，而且棒的長(zhǎng)度大于橫截面線度的有規(guī)則的長(zhǎng)棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長(zhǎng)方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測(cè)量電流是從長(zhǎng)棒兩端進(jìn)出，遠(yuǎn)離電壓測(cè)量探針，因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等），對(duì)測(cè)量的影響較小，因此兩探針法的測(cè)量精度一般優(yōu)于四探針法。特別是對(duì)多晶材料的測(cè)量，由于多晶晶粒間界處，雜質(zhì)局部偏析可能導(dǎo)致電阻率較大變化，這種影響對(duì)四探針法更為嚴(yán)重，故不推薦用四探針法測(cè)量多晶材料的電阻率。
本儀器除適合測(cè)量體形有規(guī)則的單晶棒外，也適合測(cè)量多晶棒。兩探針法測(cè)量水平區(qū)熔多晶鍺電阻率，在我國(guó)已有四十多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，對(duì)區(qū)熔鍺錠橫截面面積的變化已總結(jié)出一套計(jì)算方法，本儀器采用李賀成教授提出的計(jì)算公式編寫程序，可用微機(jī)HQ-710C處理區(qū)熔鍺錠的測(cè)量數(shù)據(jù)，或采用KDY測(cè)量系統(tǒng)軟件測(cè)量數(shù)據(jù)，并根據(jù)北京有色金屬研究總院余懷之教授的提議，擴(kuò)大了微處理機(jī)的數(shù)據(jù)處理范圍。
      本儀器主要由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試臺(tái)及兩探針頭組成。儀器的特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表（以萬(wàn)分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測(cè)全程的電流變化，免除了測(cè)量電流/測(cè)量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測(cè)量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測(cè)量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān)，在測(cè)量某些材料時(shí)，可免除探針尖與被測(cè)材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護(hù)被測(cè)材料。儀器配置了本公司的專li產(chǎn)品：“小游移探針頭”，間距為10mm的兩探針頭探針游移率在0.02～0.05%。保證了儀器測(cè)量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)需配用HQ-710C數(shù)據(jù)處理器或KDY測(cè)量系統(tǒng)軟件，置入必須的數(shù)據(jù)后，處理器會(huì)配合探頭在鍺錠上移動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)計(jì)算、打印出各點(diǎn)的電阻率、電阻率的最大值、電阻率最小值，給測(cè)量帶來很大方便。
SZ-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀主機(jī)技術(shù)參數(shù)
（1）測(cè)量范圍：
 可測(cè)電阻率：鍺晶體0.1-100Ω·cm
 可測(cè)鍺錠尺寸：最大長(zhǎng)度700mm；最大高度50mm；最大寬度60mm。
（2）恒流源：
 輸出電流：DC 0.004-100mA  五檔連續(xù)可調(diào)
 量程：0.004-0.01mA   
          0.04-0.10mA
          0.4-1.0mA 
          4.0-10mA
          40-100mA
恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.05%
（3）直流數(shù)字電壓表：
 測(cè)量范圍：0-199.99mV
 靈敏度：10μA
 基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）
 輸入阻抗：≥1000MΩ
（4）電阻測(cè)量誤差：≤0.3%
（5）兩探針頭：KDT-5
 探針間距：10.00±0.02mm  
 游移率：0.02-0.05%          
 探針壓力：4±1N/單針
（6）供電電源：
 AC   220V   ±10%   50/60Hz   功率：12W
（7）使用環(huán)境：
 溫度：23±2℃   相對(duì)溫度：≤65%
 無較強(qiáng)的電場(chǎng)干擾，無強(qiáng)光直接照射。
（8）重量、體積：
 主機(jī)重量：7.5Kg
 體積：390×340×190（單位：mm  長(zhǎng)度×寬度×高度）

兩探針電阻率測(cè)試儀(測(cè)細(xì)硅芯)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱兩探針儀）是按照我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針法”設(shè)計(jì)。配套測(cè)試架適合于測(cè)量硅芯電阻率。兩探針法的測(cè)量精度一般優(yōu)于四探針法。

整套儀器有如下特點(diǎn)

1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測(cè)量顯示電壓的同時(shí)，另一塊數(shù)字表（以萬(wàn)分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測(cè)全過程中的電流變化，使操作更方便，測(cè)量更精確。

數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ  基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)

2、可測(cè)電阻率范圍：0.001—10000Ω·cm。

3、測(cè)量電流由高度穩(wěn)定（萬(wàn)分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調(diào)節(jié)范圍從0.001~100mA

4、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長(zhǎng)的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬(wàn)次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測(cè)試儀的可靠性和使用壽命。

5、可加配電腦，安裝KDY測(cè)量系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、自動(dòng)換向測(cè)量、求平均值，計(jì)算、存儲(chǔ)并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。

兩探針電阻率測(cè)試儀(測(cè)檢磷檢硼棒)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱兩探針儀）是按照我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針法”設(shè)計(jì)。它適合于測(cè)量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠(如硅芯、檢磷、硼棒、區(qū)熔鍺錠等)的電阻率，測(cè)樣長(zhǎng)度與截面最大尺寸之比應(yīng)不小于3：1。由于兩探針法的測(cè)量電流是從長(zhǎng)棒兩端進(jìn)出，遠(yuǎn)離電壓測(cè)量探針，因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等），對(duì)測(cè)量的影響較小，測(cè)量結(jié)果為橫截面的平均電阻率，兩探針法的測(cè)量精度一般優(yōu)于四探針法。

整套儀器有如下特點(diǎn):

1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測(cè)量顯示電壓的同時(shí)，另一塊數(shù)字表（以萬(wàn)分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測(cè)全過程中的電流變化，使操作更方便，測(cè)量更精確。

數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)

2、可測(cè)電阻率范圍：0.001—10000Ω·cm。

3、測(cè)量電流由高度穩(wěn)定（萬(wàn)分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調(diào)節(jié)范圍從0.001~100mA

4、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長(zhǎng)的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬(wàn)次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測(cè)試儀的可靠性和使用壽命。

5、可加配電腦，安裝KDY測(cè)量系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、自動(dòng)換向測(cè)量、求平均值，計(jì)算、存儲(chǔ)并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。