太陽輻射試驗是指對產(chǎn)品在長時間暴露于太陽輻射下可能發(fā)生的性能退化情況進行模擬試驗，以了解產(chǎn)品的耐候性和可靠性。試驗通常包括樣品制備、試驗條件設(shè)定、試驗結(jié)果分析等步驟。試驗結(jié)果將作為產(chǎn)品設(shè)計和應(yīng)用的重要依據(jù)，為產(chǎn)品設(shè)計和應(yīng)用提供科學(xué)依據(jù)。太陽輻射試驗-第三方CMA檢測中心，中科檢測提供太陽輻射試驗服務(wù)，具有CMA,CNAS資質(zhì)。

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為了模擬太陽光對產(chǎn)品的影響，通過模擬太陽光的強度、波長、照射時間等因素，觀察樣品在太陽光照射下的性能變化，以評估產(chǎn)品的耐候性、耐熱性、耐光性等性能。

太陽輻射試驗方法：

太陽輻射強度測量：通過測量太陽輻射的總輻射能量來模擬自然光照射條件。需要使用太陽輻射儀等專業(yè)設(shè)備，準(zhǔn)確測量太陽輻射的強度。

太陽輻射的短波測量:當(dāng)太陽輻射穿過地球大氣層時，其中的一部分被空氣分子、水蒸氣、氣溶膠和云吸收或散射。直接穿過地球表面的太陽輻射稱為直接法向輻照度（DNI）。從直射光束中散射出來的輻射稱為漫反射水平輻照度(DHI)。陽光的直接分量和天光的漫射分量一起落在水平表面上，構(gòu)成了全球水平輻照度(GHI)。

太陽輻射試驗標(biāo)準(zhǔn)：

GJB 150.7-86設(shè)備環(huán)境試驗方法太陽輻射試驗

GB 4797.4-1989電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件太陽輻射與溫度

GB/T 2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射

GB/T 12085.17-2022光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗方法第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗

GB/T 12085.9-2022光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗方法第9部分：太陽輻射與風(fēng)化

CB 1146.16-1996艦船設(shè)備環(huán)境試驗與工程導(dǎo)則太陽輻射

GJB150.7A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第7部分:太陽輻射試驗

太陽輻射試驗流程：

確認測試要求：客戶提出太陽輻射測試要求，實驗室會確認測試標(biāo)準(zhǔn)、測試環(huán)境等相關(guān)要求。

設(shè)備檢測：實驗室對太陽輻射測試設(shè)備進行檢測和校準(zhǔn)，確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。

樣品檢查：客戶將樣品送至實驗室，實驗室會進行外觀檢查、功能測試等操作。

太陽輻射測試：按照客戶要求，實驗室進行太陽輻射測試，并記錄相關(guān)數(shù)據(jù)。

報告撰寫：實驗室將測試數(shù)據(jù)進行整理和分析，撰寫測試報告并向客戶提交。

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