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北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司

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數(shù)字式四探針測試儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號ST2253

品牌其他品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地北京市

更新時間:2024-05-13 08:14:13瀏覽次數(shù):1889次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應用領(lǐng)域 環(huán)保
ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合

數(shù)字式四探針測試儀 是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 

    儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。 
    主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入;具有零位、滿度自校功能;測試功能可自動/手動方式;儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成,也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示,也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??! 
     
    探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。配探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
數(shù)字式四探針測試儀     
    測試臺選配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。 
      詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入 
    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。 
    儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本技術(shù)參數(shù) 
     
3.1  測量范圍 
     電  阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω 
    電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm 
    方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
     直    徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限. 
    長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    測量方位: 軸向、徑向均可 
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表: 
    (1)量程: 20.00mV~2000mV 
   (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.4 數(shù)控恒流源 
    (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A 
   (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.5 四探針探頭(選配其一或加配全部) 
    (1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調(diào) 
   (2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào) 
3.6. 電源 
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗:<20W 
3.7.外形尺寸: 
    主   機  220mm(長)×245 mm(寬)×100mm(高) 
   凈   重:≤2.5kg

 

 

 

 

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:多功能
產(chǎn)品型號: ST2258C

多功能 型號: ST2258C

概述

      ST2258C型多功能是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 
      ST2258C型多功能成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。 
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校功能;電壓電流全自動轉(zhuǎn)換量程;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結(jié)果分類功能,大分類10類。 
      探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。配探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。   
      測試臺選配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》   
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點。   
儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

 基本技術(shù)參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率(括號內(nèi)為可向下拓展1個數(shù)量級) 
    電    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×10 Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×10 Ω,    分辨率0.1×10-~ 0.01×103 Ω) 
    電 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω-cm 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×10Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm) 
    方塊電阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×10 Ω/□  
               (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×10 Ω/□)   
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
    直    徑: SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限. 
     長(高)度:  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等級

滿度顯示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

常規(guī)量程

kΩ-cm/□

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

---

大拓展量程

---

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

mΩ-cm/□

基本誤差

±2%FSB

±4LSB

±1.5%FSB

±4LSB

±0.5%FSB±2LSB

±0.5%FSB

±4LSB

±1.0%FSB

±4LSB

 

4.工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W 
5.外形尺寸: 245mm(長)×220 mm(寬)×95mm(高)  
   凈   重:≤1.5~2.0kg

產(chǎn)品名稱:智能渦街流量計/渦街流量計
產(chǎn)品型號:TC-HC-LU

智能渦街流量計/渦街流量計 型號:TC-HC-LU 
產(chǎn)品特點: 
該產(chǎn)品主要用于工業(yè)管道介質(zhì)流體的流量測量,如氣體、液體、蒸氣等多種介質(zhì)。其特點是壓力損失小,量程范圍大,精度高,在測量工況體積流量時幾乎不受流體密度、壓力、溫度、粘度等參數(shù)的影響。 
應用    
     TC-HC-LU系列智能渦街流量計主要用于工業(yè)管道介質(zhì)流體的流量測量,如氣體、液體、蒸氣等多種介質(zhì)。其特點是壓力損失小,量程范圍大,精度高,在測量工況體積流量時幾乎不受流體密度、壓力、溫度、粘度等參數(shù)的影響。無可動機械零件,因此可靠性高,維護量小。儀表參數(shù)能長期穩(wěn)定。本儀表采用壓電應力式傳感器,可靠性高,可在-20℃~+250℃的工作溫度范圍內(nèi)工作。有模擬標準信號,也有數(shù)字脈沖信號輸出,容易與計算機等數(shù)字系統(tǒng)配套使用,是一種比較良好、理想的流量儀表。 
  
※原理 

  
在流體中設置三角柱型旋渦發(fā)生體,則從旋渦發(fā)生體兩側(cè)交替地產(chǎn)生有規(guī)則的旋渦,這種旋渦稱為卡門旋渦,如右圖所示,旋渦列在旋渦發(fā)生體下游非對稱地排列。 
  設旋渦的發(fā)生頻率為f,被測介質(zhì)平均流速為 ,旋渦發(fā)生體迎流面寬度為d,表體通徑為D,即可得到以下關(guān)系式: 
 f=SrU1/d=SrU/md                    (1) 
式中  U1--旋渦發(fā)生體兩側(cè)平均流速,m/s; 
    Sr--斯特勞哈爾數(shù); 
    m--旋渦發(fā)生體兩側(cè)弓形面積與管道橫截面面積之比 
         
◆測量介質(zhì): 氣體、液體、蒸氣 
◆口徑規(guī)格 法蘭卡裝式口徑選擇 25,32,50,80,100 
◆法蘭連接式口徑選擇 100,150,200 
◆流量測量范圍 正常測量流速范圍 雷諾數(shù)1.5×104~4×106;氣體5~50m/s;      液體0.5~7m/s 
 正常測量流量范圍 液體、氣體流量測量范圍見表2;              蒸氣流量范圍見表3 
◆測量精度 1.0級  1.5級 
◆被測介質(zhì)溫度:常溫–25℃~100℃ 
◆高溫–25℃~150℃  -25℃~250℃ 
◆輸出信號 脈沖電壓輸出信號 高電平8~10V   低電平0.7~1.3V 
◆脈沖占空比約50%,傳輸距離為100m 
◆脈沖電流遠傳信號 4~20 mA,傳輸距離為1000m 
◆儀表使用環(huán)境 溫度:-25℃~+55℃ 濕度:5~90%    RH50℃ 
◆材質(zhì) 不銹鋼,鋁合金 
◆電源 DC24V或鋰電池3.6V 
◆防爆等級 本安型iaIIbT3-T6 
   防護等級 IP65

 

 

產(chǎn)品名稱:自動藥物凝點儀 藥物凝點測定儀
產(chǎn)品型號:YN4

自動藥物凝點儀 藥物凝點測定儀 型號:YN4

自動藥物凝點儀按2010版《中國藥典》附錄VI D 凝點測定法設計制造,測定藥物由液體凝結(jié)為固體時候,在短時間內(nèi)停留不變的高溫度。某些藥品具有一定的凝點、純度變更,凝點亦隨之改變。測定凝點可以區(qū)別或檢查藥品的純雜程度。 
    自動藥物凝點儀采用混體信號ISP FLASH微控制器為核心,整過測定過程除樣品加注外自動進行。真彩觸摸屏,使操作更加方便、清晰、直觀。 

自動藥物凝點儀主要技術(shù)參數(shù): 
控制方式:浴體溫度、試樣溫度、試樣攪拌、結(jié)果采集、結(jié)果打印全部采用微電腦全自動控制 
標準:2010版《中國藥典》附錄VI D 凝點測定法 
控溫范圍                 -20~ +95℃ 
控溫方式             微電腦控制 
控溫精度                      ±0.1℃ 
加熱方式                      不銹鋼電熱管加熱 
制冷方式                      進口壓縮機制冷(外接循環(huán)冷浴) 
觀察方式                      控制程序自動判斷 
工作方式                      雙孔 
試樣攪拌方式                  自動機械攪拌  
制冷控制                      進口磁力泵 
加熱功率                      400W  
制冷功率                      1200W 
結(jié)果處理                      微型打印機自動打印

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