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深入解析Zeta電位分析儀的測量原理
Zeta電位分析儀是一種基于電泳和光散射原理的高精度測量儀器，主要用于測量納米顆粒的Zeta電位。Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢差，是表征粒子表面電荷狀態(tài)的一個重要參數(shù)。
該分析儀的測量原理主要依賴于電泳遷移率的測定。當(dāng)電場施加于電解質(zhì)溶液中的懸浮帶電粒子時(shí)，這些粒子會受到電場力的作用而向相反電荷的電極移動。同時(shí)，作用于粒子的粘性力會傾向于對抗這種運(yùn)動。當(dāng)這兩種力達(dá)到平衡時(shí)，粒子將以恒定的速度運(yùn)動，這個速度被稱為電泳遷移率。
通過測量電泳遷移率，并結(jié)合介電常數(shù)、溶液粘度等物理參數(shù)，可以利用Henry方程推導(dǎo)出粒子的Zeta電位。這一過程的關(guān)鍵在于準(zhǔn)確測量電泳遷移率，這通常通過電泳光散射法來實(shí)現(xiàn)。
在電泳光散射法中，激光被用來照射納米顆粒，顆粒在電場作用下的電泳運(yùn)動會導(dǎo)致光的散射角度和強(qiáng)度發(fā)生變化。通過測量這些變化，可以計(jì)算出顆粒的電泳遷移率，進(jìn)而得到Zeta電位。
此外，Zeta電位分析儀還可以結(jié)合動態(tài)光散射技術(shù)來測量納米顆粒的粒度分布。這一功能使得分析儀能夠同時(shí)提供關(guān)于顆粒大小和表面電荷性質(zhì)的信息，為科研和工業(yè)應(yīng)用提供了更為全面的數(shù)據(jù)支持。
綜上所述，Zeta電位分析儀的測量原理基于電泳遷移率的測定，通過電泳光散射法和動態(tài)光散射技術(shù)的結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了對納米顆粒Zeta電位和粒度分布的高精度測量。