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產品簡介
RESOChron雙年代測試系統(tǒng)可以快速且低成本地獲得雙測年結果，通過光學干涉測量、X射線顯微層析或掃描電子顯微鏡測量剝蝕坑體積，該儀器適用于基礎地球科學研究中的應用需求，如構造地質學和地形演化研究，以及石油盆地分析和礦物勘探中的工業(yè)應用
詳細介紹
RESOChron雙年代測試系統(tǒng)可以快速且低成本地獲得雙測年結果，通過光學干涉測量、X射線顯微層析或掃描電子顯微鏡測量剝蝕坑體積，該儀器適用于基礎地球科學研究中的應用需求，如構造地質學和地形演化研究，以及石油盆地分析和礦物勘探中的工業(yè)應用，U-Th-Pb-He雙測年和三重測年傳統(tǒng)分析方法目前涉及單晶（例如鋯石，磷灰石，金紅石，獨居石）的多個手動處理階段，開始于U-Th-Pb同位素的SHRIMP或LA-ICP-MS單點分析，然后利用Alphachron™技術進行全顆粒樣品的同位素分析。
基礎應用：
1、潛在核倉庫的熱流體流動史；
2、相對斷層位移（勘探斷層成因的礦床）；
3、鉆石探礦 — 構造和地形演化歷史；
4、成礦區(qū)的造山抬升/剝蝕速率（地形演化）；
5、潛在地熱儲層的前景預測；
6、沉積盆地勘探 — 烴源巖的熱演化；
7、富鐵河流沉積礦床成礦期的古氣候條件；
8、石油和天然氣勘探；
9、熱液礦床熱歷史反演所需的參數(shù)。
技術規(guī)格：
激光功率，脈沖頻率和脈沖長度的組合選項：200mJ/100Hz/20ns，200mJ/20Hz/20ns或8mJ/300Hz/8ns
1、樣品數(shù)量：通常為25個樣品/樣品托盤；
2、激光波長：193nm 準分子激光器；
3、氦測量重現(xiàn)性<0.35％ （1σ）；
4、背景4He水平<0.02 ncc。
產品優(yōu)勢：
1、在分析過程中避免礦物或氣體包裹體；
2、相對于傳統(tǒng)方法，提高了精確度和準確度；
3、提供單顆粒的地質年代學年齡、熱年代學年齡和微量元素分析大量礦物顆粒的快速測年；
4、不需要alpha校正（能夠分析測量小的礦物顆粒）；
5、不需要進行危險和耗時的礦物溶解（HF）；
6、可實現(xiàn)礦物剖面的氦含量分析。
RESOChron雙年代測試系統(tǒng)激光剝蝕(U-Th)/He熱年代學可以獲得精確定義的、無缺陷的晶體體積，具有已知的表面積，從而克服了傳統(tǒng)的單顆粒晶體測量方法的兩個不確定性，能夠對多個礦物顆粒進行快速的、自動化的U-Th-Pb-He分析，允許在工業(yè)和學術研究中更快、更便宜和常規(guī)地應用雙測年，該系統(tǒng)一種*的儀器，能夠進行礦物的U-Th-Pb-He三重測年和微量元素表征，通過ICP-MS 測量Pb，U和Th以得到U-Pb年齡。
