Thick8000X射線光譜分析儀 性能優(yōu)勢(shì)

1.精密的三維移動(dòng)平臺(tái) 
2.的樣品觀測系統(tǒng) 
3.的圖像識(shí)別 
4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測 
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換 
6.雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無縫防撞 
7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!
開機(jī)自動(dòng)自檢、復(fù)位； 
開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測試平臺(tái)，方便放樣； 
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦； 
直接全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)； 
軟件界面測試按鈕，自動(dòng)完成測試并顯示結(jié)果。

 Thick8000X射線光譜分析儀 技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U） 
同時(shí)檢測元素：多24個(gè)元素，多達(dá)5層鍍層
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
SDD探測器：分辨率低135eV
的微孔準(zhǔn)直技術(shù)：小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個(gè)工業(yè)高清攝像頭 
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合 
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

部分產(chǎn)品

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應(yīng)用領(lǐng)域

X射線膜厚檢測儀廣泛應(yīng)用于小螺絲、螺帽、螺栓、電子連接器、汽車配件、端子、PCB線路板、電子元器件等產(chǎn)品的金屬鍍層快速測量。