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詳細(xì)摘要： 1.190~3300nm的寬波長(zhǎng)，支持紫外-可見(jiàn)-近紅外區(qū)，滿足更多測(cè)定需求。 2.秉承日立優(yōu)異的光柵制造技術(shù)，使用具有日立蝕刻衍射光柵，衍射效率高，散射光量低...

詳細(xì)摘要： 創(chuàng)新的Agilent Cary 3500 紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)具有優(yōu)異的光度測(cè)量性能和眾多*的測(cè)量功能，將為您的實(shí)驗(yàn)室?guī)?lái)變革。全新的設(shè)計(jì)理念，旨在有效簡(jiǎn)化您的...

詳細(xì)摘要： 日立偏振塞曼原子吸收分光光度計(jì),創(chuàng)新永無(wú)止境!ZA3700系列是一款新型石墨爐原子吸收分光光度計(jì)，在確?；拘阅埽ɡ纾焊呔群透哽`敏度）的前提下，采用其他原子...

詳細(xì)摘要： 自1962年日立開(kāi)發(fā)出第一代KLA型氨基酸分析儀以來(lái)，經(jīng)過(guò)56年的時(shí)間，歷經(jīng)KLA型、KLA-5型、835型、L-8500型號(hào)、L-8800型號(hào)、L-8900六...

詳細(xì)摘要： Vulcan 是一款耐用且分析速度極快的合金分析儀?？郯鈾C(jī)后一秒即會(huì)顯示結(jié)果。且產(chǎn)品使用激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù) （LIBS），您無(wú)需擔(dān)心X射線的影響。無(wú)論您的業(yè)務(wù)...

詳細(xì)摘要： 我們的DSC（差示掃描量熱儀）被廣泛用于材料表征。 例如熔點(diǎn)，玻璃化轉(zhuǎn)變，結(jié)晶。 DSC600被廣泛用于包括聚合物，制藥，化學(xué)，石油和天然氣，食品和金屬等行業(yè)的...

詳細(xì)摘要： New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結(jié)構(gòu)，消除了受加熱爐溫度變化影響而導(dǎo)致的微小重量誤差，讓基線穩(wěn)定性水平遠(yuǎn)超日立原有產(chǎn)品。在加熱爐內(nèi)未放置試樣...

詳細(xì)摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級(jí)鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化...

詳細(xì)摘要： XRF 分析（X射線熒光）與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 （EDXRF） 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量...

詳細(xì)摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級(jí)鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化...

詳細(xì)摘要： 概要：對(duì)應(yīng)環(huán)境限制物質(zhì)管理、可快速且簡(jiǎn)單測(cè)量有害物質(zhì)的X射線熒光分析儀。

詳細(xì)摘要： 微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)?；赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供...

詳細(xì)摘要： 束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)?；赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易...

詳細(xì)摘要： FT160配置部件，可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析。毛細(xì)管聚焦光學(xué)鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束，從而在樣品上集中更大強(qiáng)度且其可測(cè)量的部件尺寸小于傳...

詳細(xì)摘要： 精工是水平雙臂式TG/DTA技術(shù)的，EXSTAR系列TG/DTA以其性能及出色的性價(jià)比贏得了包括清華大學(xué)、北京大學(xué)、中科院、索尼、普利斯通等國(guó)內(nèi)外眾多用戶的青睞...

詳細(xì)摘要： 日立高新針對(duì)RoHS 2.0指令中的1 0 種限制使用物質(zhì)的分析解決方案。

詳細(xì)摘要： 概要：傳統(tǒng)的TMA相比，靈敏度提高了2倍。因?yàn)槭菦](méi)有形狀制約的全膨脹方式，無(wú)論是薄膜或碎片樣品都可以測(cè)定。另外，只須更換探針就可以完成壓縮、針入、拉伸測(cè)量模式。...

詳細(xì)摘要： New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結(jié)構(gòu)，消除了受加熱爐溫度變化影響而導(dǎo)致的微小重量誤差，讓基線穩(wěn)定性水平遠(yuǎn)超日立原有產(chǎn)品。在加熱爐內(nèi)未放置試樣...

詳細(xì)摘要： EA8000是，與X射線、CT、X光照相同原理通過(guò)X射線透射圖像捕捉樣品中的金屬異物，再通過(guò)熒光X射線分析使元素清晰化的異物分析裝置。所謂的熒光X射線分析，是指...

詳細(xì)摘要： 通過(guò)位置精度較高的自動(dòng)樣品臺(tái)和高靈敏度性能，可以對(duì)微小異物進(jìn)行快速掃描和檢查，也可對(duì)電子基板等復(fù)合材料制品的微小特定部位實(shí)施定點(diǎn)測(cè)量。