詳細(xì)介紹
配合使用垂直炬管與速度更快且無需氣體吹掃的 VistaChip II CCD 檢測(cè)器,Agilent5110 ICP-OES等離子體光譜 (也稱作 ICP-AES)能夠以一半的氬氣用量來運(yùn)行具挑戰(zhàn)的樣品,速度可提升 55%,并且不影響任何分析性能。
Agilent5110 ICP-OES等離子體光譜特性:
● *的智能光譜組合 (DSC) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)同步水平和垂直信號(hào)測(cè)量,消耗更少氣體即可運(yùn)行最快的 ICP-OES 分析
● 高級(jí)閥系統(tǒng) (AVS) 可降低每次分析成本并使分析效率提高一倍以上
● 垂直炬管設(shè)計(jì)可以測(cè)量包括高基質(zhì)和揮發(fā)性有機(jī)溶劑在內(nèi)的復(fù)雜樣品
● 通過分析過程中精準(zhǔn)氣泡注入控制,可選 AVS 能夠有效縮短樣品提升、穩(wěn)定時(shí)間和清洗延時(shí),從而實(shí)現(xiàn)高精度的分析
● 固態(tài) RF 系統(tǒng)可提供穩(wěn)定的等離子體,確保長(zhǎng)期穩(wěn)定的分析性能
● IntelliQuant 模式使樣品中的所有元素一目了然,大大簡(jiǎn)化了方法開發(fā)過程并實(shí)現(xiàn)了快速樣品篩選
● 直觀的 ICP Expert 軟件和 DSC 技術(shù)使方法開發(fā)更為便捷流暢
● *集成式切換閥與即插即用式炬管極大程度減少了培訓(xùn)需求,確保實(shí)現(xiàn)快速啟動(dòng)。
更多信息請(qǐng)點(diǎn)擊:Agilent等離子體光譜