一、日立熒光分布成像系統(tǒng)（EEM View）簡介

       作為熒光分光光度計(jì)的配件系統(tǒng)，這是將相機(jī)與熒光分光光度計(jì)的結(jié)合，融合了智能算法的*技術(shù)。能夠同時(shí)獲取樣品圖像和光譜信息。

新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到日立F-7000/71000熒光分光光度計(jì)的樣品倉內(nèi)。入射光經(jīng)過積分球漫反射后均勻照射到樣品，利用熒光光度計(jì)標(biāo)配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜，積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像，并利用*的AI光譜圖像處理算法，可以同時(shí)得到反射和熒光成分圖像。

    二、  日立熒光分布成像系統(tǒng)（EEM View）特點(diǎn)：

    1. 可以全面測定樣品的光譜數(shù)據(jù)（反射光、熒光特性）

在不同光源條件下（白光和單色光）拍攝樣品圖像，（區(qū)域：Φ20mm、空間分辨率：0.1 mm左右、波長范圍：360-700nm），同時(shí)利用*的光譜算法，分別顯示熒光圖像和反射圖像, 根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息（熒光光譜、反射光譜）

熒光分布成像系統(tǒng)軟件分析（EEM View Analysis）界面(樣品：LED電路板)

2.  樣品安裝簡單，適用于各種樣品測試

樣品只需擺放到積分球上，安裝十分簡單！

豐富的樣品支架

支持精確測量的校正工具

熒光分布成像系統(tǒng)是一種全新的技術(shù)，將它配置到熒光分光光度計(jì)中，改變了常規(guī)熒光光度計(jì)只能獲得樣品表面區(qū)域平均化信息的現(xiàn)狀，可以查看樣品圖像任意區(qū)域的光譜信息，十分適合涂料、材料、油墨、LED、化工等領(lǐng)域。