Olympus奧林巴斯45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀
應(yīng)用
檢測管道中的內(nèi)壁減少情況。
背景
局部墻壁減少并不總是由腐蝕引起。在板材軋制期間或在管材制造過程中形成的初始階段可以產(chǎn)生壁減少。鋼中的印?？梢酝ㄟ^成形輥產(chǎn)生。施加到成形輥的高表面壓力和熱量會引起剝落。剝落并從輥子上脫離的金屬片可落入進入板的路徑中，使得片件粘合到輥子上。一旦碎片與輥子結(jié)合，就會在被軋制的板材中開始出現(xiàn)印痕。因此，由輥引起的印模的術(shù)語偽影看起來類似于由腐蝕引起的壁減少。
在許多情況下，新管道將投入使用此類工件。當管道運行后再進行腐蝕檢查時，檢查人員可能會發(fā)現(xiàn)這些墻壁減少偽影并將其誤認為是腐蝕單元。如果發(fā)生這種情況，工藝工程師可能會推斷出不正確的腐蝕速率并導(dǎo)致不正確的工藝變化和/或化學(xué)添加 然而，簡單的超聲測量程序可以在制造或安裝階段識別偽影。
設(shè)備
型號38DLP PLUS厚度計，或帶波形顯示選件的45MG型應(yīng)變計，以及D790雙元件傳感器（5 MHz）。
例
下圖中的管道是采用ERW工藝制造的8“x .250"壁碳鋼1018等級。深色凹痕是減少在管道形成過程中發(fā)生的壁厚的偽影。ID或OD上沒有腐蝕。
厚度測量以與腐蝕測量相同的方式進行。在左圖中，量具讀取全壁厚度。在右圖中，較薄的讀數(shù)表示內(nèi)表面上的壁變薄偽影。
在試圖區(qū)分制造工件和腐蝕電池時，檢查員可能會考慮以下因素：
確定管道是ERW還是無縫管道。
確定墻體減少的方向是軸線而不是隨機。
如果管道回路中的多個或所有接頭都是ERW，請確定每個接頭上的工件所在的線。檢查員可能會發(fā)現(xiàn)線路相對于管道改變方位角位置。
如果發(fā)現(xiàn)電路中的管道連接是無縫的并且沒有墻壁減少。
結(jié)論
可以通過超聲波厚度測量來檢測管道中的制造偽影。執(zhí)行管道厚度測量的檢查員應(yīng)了解這種損壞機制。向過程工廠質(zhì)量控制檢查員通知該潛在問題以避免過高估計腐蝕速率也很重要。
45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀
手持式45MG是一款配置有各種測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款儀器與所有奧林巴斯雙晶和單晶探頭探頭兼容。
38DL PLUS
38DL PLUS是一款高級超聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進行檢測。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、極厚材料以及多層材料進行的厚度測量。
| 測量 | 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后延遲到*個回波之間的時間間隔。 |
|---|---|---|
| 自動回波到回波（可選） | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 | |
| 穿透涂層測量 （可選） | 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） | |
| 單晶探頭測量模式（可選） | 模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。 模式2：延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。 | |
| 厚度范圍 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量較全的范圍需要使用單晶選項） | |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） | |
| 分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸） | |
| 探頭頻率范圍 | 標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） | |
| 一般規(guī)格 | 操作溫度范圍 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 鍵盤 | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 | |
| 機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標準。 | |
| 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm | |
| 重量 | 430.9克 | |
| 電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng) | |
| 電池工作時間 | 3節(jié)AA堿性電池：20到21小時 3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時 3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時 | |
| 標準 | 設(shè)計符合EN15317標準 | |
| 顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波（波形選項） | |
| 輸入/輸出 | USB | 2.0從接口 |
| 存儲卡 | 最大容量：2 GB可插拔microSD存儲卡 | |
| 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選） | 數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或microSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
| 容量 | 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形 | |
| 文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼 | |
| 文件結(jié)構(gòu) | 6個標準的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu) | |
| 報告 | 機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和最小值/最大值 |
標準配置
45MG數(shù)字式超聲測厚儀
AA堿性電池
2階試塊和耦合劑
USB線纜
用戶手冊，存于CD盤上
測量功能：最小值/最大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能
軟件選項
45MG-SE (U8147022)：單晶選項，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-HP (U8147023)：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂層
45MG-WF (U8147019)：波形選項
45MG-DL (U8147020)：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序
選購附件
MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置microSD存儲卡
45MG-RPC (U8779676)： 帶支架的橡膠保護套
回波到回波
測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：
自動回波到回波
手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進行以下操作：
增益調(diào)整
擴展空白
回波空白
穿透涂層技術(shù)
| 使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 |
顯示A掃描的自動回波到回波模式
顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）
調(diào)整*個回波空白的手動回波到回波模式
顯示可選波形的穿透涂層模式
用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的厚度測量?？膳c范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
大多數(shù)薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機加工部件
汽缸孔、渦輪葉片
玻璃燈泡、瓶子
薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。
大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料
厚鑄造金屬部件
厚橡膠輪胎、履帶
玻璃纖維船體、儲存罐
復(fù)合材料板
對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）
45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項包含GageView接口程序。
數(shù)據(jù)記錄器選項
內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)，或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
32位字符的文件名稱
20位字符的ID#（TML#）編碼
6個文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機上手動創(chuàng)建的文件格式
內(nèi)置microSD存儲卡和可插拔microSD存儲卡
可以在內(nèi)置和可插拔microSD存儲卡之間拷貝文件
標準型USB通訊
單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸
機載統(tǒng)計報告
機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：
通過USB端口
讀取microSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，或在存儲卡上寫入信息
可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式或.txt格式，直接導(dǎo)出到microSD存儲卡
在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。
可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數(shù)的測量報告。
機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView接口程序
包含在數(shù)據(jù)記錄器選項中
基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自45MG測厚儀的數(shù)據(jù)
創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)
編輯所存數(shù)據(jù)
顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值
從測厚儀上下載厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀
將測量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其它程序
收集捕獲的屏幕
打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告
升級45MG軟件
下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件
在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。
用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中最大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、個回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
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