介電常數(shù)介質損耗測試儀用于測試電工材料的介電系數(shù)和損耗角正切值,也用來測試高頻阻抗元器件（電感、電容和其他諧振組件）的品質因數(shù)即：Q值。相對阻抗電橋法,高頻震蕩法的測試結果更真實地反映了材料器件在高頻工作狀態(tài)下的特性。
介電常數(shù)介質損耗測試儀的測試回路可用被測元件L、主調諧電容C、回路的損耗電阻R構成的串聯(lián)電路來等效，當測試回路諧振時（高頻信號源輸入信號的頻率為諧振頻率w0），主調電容上的電壓是信號源輸入電壓的Q倍，或Q=w0L/R=1/w0CR，顯然信號源頻率w0的穩(wěn)定度和精度、主調電容C的精度和分辨率、測試回路的高頻損耗R決定了儀器的品質。模擬式的信號源穩(wěn)定性差，主調電容的分辨率和讀數(shù)精度低，使用復雜，并且不可避免地存在主觀的操作誤差。
介電常數(shù)介質損耗測試儀特點：
1、介電常數(shù)介質損耗測試儀是根據(jù)GB/T1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC60250）設計和制造的，并符合JB7770等試驗方法。
2、介電常數(shù)介質損耗測試儀適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。
3、介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率，是表征電介質或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。介質在外加電場時會產(chǎn)生感應電荷而削弱電場，原外加電場(真空中)與終介質中電場比值即為介電常數(shù)。其表示電介質在電場中貯存靜電能的相對能力，例如一個電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小絕緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場中，場的強度會在電介質內有可觀的下降。介電常數(shù)還用來表示介質的極化程度，宏觀的介電常數(shù)的大小，反應了微觀的極化現(xiàn)象的強弱。氣體電介質的極化現(xiàn)象比較弱，各種氣體的相對介電常數(shù)都接近，液體、固體的介電常數(shù)則各不相同，而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關。
4、物質介電常數(shù)具有復數(shù)形式，其實部即為介電常數(shù)，虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。
5、通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切，其可表示材料與微波的耦合能力，耗散角正切值越大，材料與微波的耦合能力就越強。例如當電磁波穿過電解質時，波的速度被減小，波長也變短了。
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