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固體絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀

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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) LST-121 ATI-212
  • 品牌 縱橫金鼎
  • 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時(shí)間:2024/11/06 13:10:18瀏覽次數(shù):1542

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應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,司法
固體絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)定儀)能測(cè)試體積電阻率和表面電阻率實(shí)現(xiàn)目前市場(chǎng)測(cè)量量程寬,支持觸摸屏設(shè)置及顯示,支持微型打印機(jī),同時(shí)支持USB與電腦通訊,配備電腦軟件,實(shí)時(shí)顯示測(cè)量曲線(xiàn),支持歷史數(shù)據(jù)存儲(chǔ),并支持同類(lèi)材料實(shí)驗(yàn)結(jié)果對(duì)比分析

詳細(xì)介紹

、固體絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn):

ATI-212材料電阻率測(cè)試儀(電阻率測(cè)定儀)能測(cè)試體積電阻率和表面電阻率實(shí)現(xiàn)目前市場(chǎng)測(cè)量量程寬,支持觸摸屏設(shè)置及顯示,支持微型打印機(jī),同時(shí)支持USB與電腦通訊,配備電腦軟件,實(shí)時(shí)顯示測(cè)量曲線(xiàn),支持歷史數(shù)據(jù)存儲(chǔ),并支持同類(lèi)材料實(shí)驗(yàn)結(jié)果對(duì)比分析。

 

二、固體絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn):

GB/T1410-2006、 ASTM D257-99 、 GB/T2439-2001、GB/T10581-2006、 GB/T1692-2008、GB/T 12703.4-2010、 GB/T10064-2006。

 

二、適用材料:

    橡膠、塑料、聚酯薄膜、膠片、硅膠、光伏組件、汽車(chē)零部件、復(fù)合材料、陶瓷、玻璃、云母、樹(shù)脂等固體絕緣材料。配備不同電極還可測(cè)試液體、粉末材料。

 

三、技術(shù)參數(shù):

型號(hào)

LST-121

ATI-212

ATD-312

 

顯示方式

液晶顯示

觸摸屏

觸摸屏,帶打印可連接電腦曲線(xiàn)分析

 

儀器電壓

10V、25V、100V、250V、500V、1000V

儀器電阻

1×104Ω~1×1018Ω

儀器電流

1×10-4A~1×10-16

厚度輸入

無(wú)

儀器精度

1≤%

  

儀器屏幕顯示

電壓、電阻、電流

電壓、電阻、電流、電阻率

支持微型打印機(jī),同時(shí)支持USB與電腦通訊,配備電腦軟件,實(shí)時(shí)顯示測(cè)量曲線(xiàn),支持歷史數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

 

可測(cè)試項(xiàng)目

體積電阻、表面電阻

體積電阻率、表面電阻率

主機(jī)尺寸

300*170*120mm

360*350*170mm

屏蔽箱尺寸

200*200*100mm

測(cè)試方法

三電極法

電極尺寸

下電極100mm、環(huán)形電極80mm、圓柱電極50mm

屏蔽箱 電極重量

5KG

主機(jī)重量

3KG

5KG

10KG

 

供電形式

AC220V,50HZ,功耗約5W


接線(xiàn):

測(cè)量線(xiàn):將兩端有中心測(cè)量頂針的測(cè)試線(xiàn)一端與主機(jī)測(cè)量端連接(IX) 一端與屏蔽箱鏈接測(cè)量端。
接地線(xiàn):將一端插頭一端開(kāi)口黑色接地線(xiàn)與主機(jī)(〒)連接
高壓線(xiàn):將一端插頭一端開(kāi)口紅色接地線(xiàn)與主機(jī) (RX)連接
先將試樣放入屏蔽測(cè)試箱(切記一定要盡量保持圓環(huán)電極和測(cè)量電極
同心不應(yīng)出現(xiàn)短接現(xiàn)象) 。屏蔽箱內(nèi)黑色夾子與圓環(huán)電極連接,紅色夾子與測(cè)量電極(圓柱電極)連接。完畢請(qǐng)將蓋子蓋上與外界屏蔽
、(開(kāi)機(jī)前請(qǐng)確保所有檔位歸零)屏蔽箱有 Rv 體積 Rs 表面
Pv=Rv
 式中:pv 為電阻率
Rv 即是電阻上一步已經(jīng)測(cè)量出
Ae:被保護(hù)電極的有效面積平方厘米(cm2)
Ae=19.635   19.635 為死值  我公司被保護(hù)電極統(tǒng)一的面積就是 19.635
如需要 Ae 計(jì)算步驟詳細(xì)見(jiàn)說(shuō)明書(shū)的詳細(xì)計(jì)算步驟此步驟無(wú)關(guān)緊要 在這里省略
t 試樣的厚度 切記以厘米表示 .cm
這樣我們就得到了被測(cè)試樣的體積電阻率
下面我們繼續(xù)表面電阻率的測(cè)量:
先將所有量程歸位歸位順序?yàn)?/span>

1、電阻量程 2、電壓量程 3、表頭極性開(kāi)關(guān) 4、測(cè)量快關(guān)

以上順序與測(cè)試順序正好相反

一切歸位以后 將屏蔽箱旋轉(zhuǎn)至 Rs 檔位
此時(shí)在繼續(xù)測(cè)量順序
讀出表頭讀數(shù)帶入下面公式:
Ps=Rs
式中: p 為死值=15.708

Ps:表面電阻率

Rs:表面電阻值

P:被保護(hù)電極的有效周長(zhǎng)厘米(cm)

g:兩電極之間的距離單位厘米(cm)

以試樣厚度為 0.2cm 為例 表頭讀數(shù)還是 2x106

代入公式:ps=2x106x15.708/0.2≅? 這個(gè)結(jié)果?就是我們需要的表面電阻率


 

以下為此儀器的標(biāo)準(zhǔn):

固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法

1、范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的試驗(yàn)方法。這些試驗(yàn)方法包括對(duì)固體絕緣 材料體積電阻和表面電阻的測(cè)定程序及體積電阻率和表面電阻率的計(jì)算方法。

體積電阻和表面電阻的試驗(yàn)都受到下列因素影響:施加電壓的大小和時(shí)間;電極的性質(zhì)和尺寸;在 試樣處理和測(cè)試過(guò)程中周?chē)髿鈼l件和試樣的溫度、溫度。

 

2、規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款?!》彩亲⑷掌诘囊梦募潆S后所有 的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究 是否可使用這些文件的版本?!》彩遣蛔⑷掌诘囊梦募?,其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 10064-2006 測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法(IEC 60167:1964,IDT)

GB/T 10580-2003固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件。EC 60212:1971,IDT)

IEC 60260: 1968 非注入式恒定相對(duì)溫度的試驗(yàn)箱

 

3、定義

下列定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

3.1

體積電阻 volume resistance

在試樣兩相對(duì)表面上放置的兩電極間所加直流電壓與流過(guò)這兩個(gè)電極之間的穩(wěn)態(tài)電流之商,不包 括沿試樣表面的電流,在兩電極上可能形成的極化忽略不計(jì)。

注:除非另有規(guī)定,體積電阻是在電化一分鐘后測(cè)定。

3.2

體積電阻率 volume resistivity

在絕緣材料里面的直流電場(chǎng)強(qiáng)度和穩(wěn)態(tài)電流密度之商,即單位體積內(nèi)的體積電阻。

注:體積電阻率的SI單位是。 ' m。 實(shí)際上也使用。? cm 這一單位。

3.3

表面電阻 surface resistance

在試樣的其表面上的兩電極間所加電壓與在規(guī)定的電化時(shí)間里流過(guò)兩電極間的電流之商,在兩電 極上可能形成的極化忽略不計(jì)。

注1:除非另有規(guī)定,表面電阻是在電化一分鐘后測(cè)定。

注2:通常電流主要流過(guò)試樣的一個(gè)表面層,但也包括流過(guò)試樣體積內(nèi)的成分。

3.4

表面電阻率 surface resistivity

在絕緣材料的表面層里的直流電場(chǎng)強(qiáng)度與線(xiàn)電流密度之商,即單位面積內(nèi)的表面電阻。 面積的大 小是不重要的。

注:表面電阻率的SI單位是0。 實(shí)際上有時(shí)也用 “歐每平方單位”來(lái)表示。

3.5

電極electrodes

電極是具有一定形狀、尺寸和結(jié)構(gòu)的與被測(cè)試樣相接觸的導(dǎo)體。

注:絕緣電阻是加在與試樣相接觸的兩電極之間的直流電壓與通過(guò)兩電極的總電流之商。絕緣電阻取決于試樣的

表面電阻和體積電阻(見(jiàn)GB/T10064一一2006)。

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