LDJD-C自動測量介電常數(shù)儀——航天偉創(chuàng)

• 主要參數(shù)

1. 信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

2. 信號源頻率精度3×10^-5 ±1個字, 6位有效數(shù)字；信號頻率覆蓋比11000：1；采樣精度12BIT（高精度A/D采樣）；

3．Q值測量范圍：1～1000自動/手動量程；Q值分辨率0.1，4位有效數(shù)字；Q值測量工作誤差＜5%；

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

5．電感測量范圍：1nH～140mH，分辨率0.1nH，自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能；

6．電容直接測量范圍：1pF～25nF，分辨率0.1pF，準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%；                                      

7．主電容調節(jié)范圍： 17～240pF（一體鍍銀成型，精度高）；帶步進馬達，電容自動搜索；                                        

8． 材料測試厚度：0.1mm~10mm；

9． 合格指示預置功能范圍：5～1000；

10．LCD顯示參數(shù)F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13.（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm

*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：

分別由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。

硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角
正切值的測定方法
告：使用本標準的人員應有正規(guī)實驗室工作的實戥經(jīng)驗。本標準井未指出所有可能的安全問題。使用者有貴任采取適當?shù)陌踩徒】荡胧?，并保證符合國家有關法規(guī)規(guī)定的條件。
1范圍
本標準規(guī)定了介電常數(shù)和介質損耗角正切值的兩種測定方法。方法A為工頻（50Hz）下的測定方
法，方法B為高頻電場下的測定方法。
本標準適用于硫化橡膠。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的·新版本。凡是不注日期的引用文件，其·新版本適用于本標準。
GB/T2941橡膠物理試驗方法試樣制備和調節(jié)通用程序（GB/T2941-2006,ISO23529:2004IDT)
3術語和定義
下列術語和定義適用于本標準。

介質損耗 dielectric loss
絕緣材料在電場作用下，由于介質電導和介質極化的滯后效應，在其內部引起的能量損耗
損耗角6 loss angle6
在交變電場下，電介質內流過的電流向量和電壓向量之間的夾角（功率因數(shù)角∮的余角（6).
損耗角正切tan6 loss tangent6介質損耗因數(shù) dielectric loss factor
介質損耗角正切值
介電常數(shù) dielectric constant
絕緣材料在電場作用下產(chǎn)生極化，電容器極板間有電介質存在時的電容量C與同樣形狀和尺寸的真空電容量C之比。
注：不同試樣、不同電極的真空電容和邊緣校正的計算參見附錄A.
6.3試樣數(shù)量
試樣的數(shù)量不少于3個。7硫化與試驗之間的時間間隔
試樣在硫化與試驗之間的時間間隔按GB/T2941的規(guī)定執(zhí)行。8試驗條件
8.1試樣表面應清潔、平滑，無裂紋、氣泡和雜質等，試樣表面應用藤有無水乙醇的布擦洗。
8.2試樣應在標準實驗室溫度及混度下至少調節(jié)24h.
8.3當試樣處理有特殊要求時，可按其產(chǎn)品標準規(guī)定的進行。

9試驗步聚
9.1方法A
9.1.1試驗電壓為1000V~3000V，一般情況下為1000V，電源頻率為50Hz.
9.1.2按設備說明書正確的連接
9.1.3接通電源預熱30min.
9.1.4將試樣接入電橋C，的橋臂中，加上試驗電壓，根據(jù)電橋使用方法進行平衡，讀取R和tanb或
C的值。
9.2方法B一諧振升高法（Q表法）
9.2.1按照Q表的操作規(guī)程調整儀器，選定測量頻率，測定C和Q1的值。
9.2.2將試樣放入測試電極中，并調節(jié)電容器C.,使電路諧振，達到大Q值記下調諧電容量C2和
Q2的值。
9.2.3將試樣從測試電極中取出，調節(jié)C?；驕y試電極的距離，使電路重新諧振，記下C。或試電極的
校正電容值與Q值，并根據(jù)測試值計算出損耗角tan與介電常數(shù)∈
9.2.4其他高頻測試儀器按其說明書進行操作，通過測試值計算出損耗角tan6和介電常數(shù)∈

北京航天偉創(chuàng)設備科技有限公司經(jīng)營各種設備儀器，主營產(chǎn)品如下：

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