介電常數(shù)到底是表征材料的什么性能？介電電常數(shù)和介電損耗是什么關(guān)系？

存在這樣一種電學(xué)現(xiàn)象：介質(zhì)在外加電場(chǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場(chǎng)，這種被削弱的能量，一部分被介質(zhì)存起來，另一部分損耗掉（轉(zhuǎn)化為熱能）。為了定量描述這種現(xiàn)象，于是設(shè)計(jì)了“介電常數(shù)”和“介電損耗”這兩個(gè)參數(shù)。
介電常數(shù)是表征材料在電場(chǎng)中存儲(chǔ)電荷的能力的一種參數(shù)。
介電常數(shù)(permittivity)的定義就是，介質(zhì)中電場(chǎng)與真空中電場(chǎng)的比值比值即為介電常數(shù)。
介電損耗就是表征那部分因發(fā)熱而損耗掉的能量。
介質(zhì)損耗（diclectric loss）的定義就是，電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下，在單位時(shí)間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質(zhì)的損耗功率

高頻介電常數(shù)及介質(zhì)蒜損耗測(cè)試系統(tǒng)主要測(cè)試材料:

1 絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC 等

AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)

AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的jia解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。