介電常數(shù)及介質損耗測試儀
AS2855-A型介電常數(shù)及介質損耗測試系統(tǒng)
產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品型號 | 計量單位 | 數(shù)量 | 原價 |
高頻Q表 | QBG-3E改進型 （10KHz-70MHz） | 臺 | 1 | 7000 |
介質損耗測試夾具 | S916 | 臺 | 1 | 5000 |
電感組 | LKI-1 | 套 | 1 | 5000 |
液體杯（選配） | 用于測試液態(tài)絕緣材料 | 個 | 1 | 500 |
?介電常數(shù)及介質損耗測試儀
- AS2855-B型介電常數(shù)及介質損耗測試系統(tǒng)
產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品型號 | 計量單位 | 數(shù)量 | 原價 |
高頻Q表 | QBG-3F改進型 （10KHz-110MHz） | 臺 | 1 | 12000 |
介質損耗測試夾具 | S916 | 臺 | 1 | 5000 |
電感組 | LKI-1 | 套 | 1 | 5000 |
液體杯（選配） | 用于測試液態(tài)絕緣材料 | 個 | 1 | 500 |
- AS2855-C型介電常數(shù)及介質損耗測試系統(tǒng)
產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品型號 | 計量單位 | 數(shù)量 | 原價 |
高頻Q表 | AS2853A改進型 （100KHz-160MHz） | 臺 | 1 | 17000 |
介質損耗測試夾具 | S916 | 臺 | 1 | 5000 |
電感組 | LKI-1 | 套 | 1 | 5000 |
100MHz電感（選配） |
| 個 | 1 | 200 |
液體杯（選配） | 用于測試液態(tài)絕緣材料 | 個 | 1 | 500 |
AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)/介質損耗測試系統(tǒng)
AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)介質損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）。
一 AS2855介電常數(shù)/介質損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：
- 主機：AS2853A/QBG-3E/QBG-3F 高頻Q表
功能名稱： | QBG-3E | QBG-3F | AS2853A |
信號源范圍DDS數(shù)字合成信號 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz
| 100KHZ-160MHz |
信號源頻率覆蓋比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
信號源頻率精度 6位有效數(shù) | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 |
Q測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 |
Q分辨率 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 |
Q測量工作誤差 | <5% | <5% | <5% |
電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
電感測量誤差 | <5% | <5% | <5% |
調諧電容 | 主電容30-540pF | 主電容30-540pF | 主電容17-240pF |
電容直接測量范圍 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF |
調諧電容誤差 分辨率 | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF |
諧振點搜索 | 自動掃描 | 自動掃描 | 自動掃描 |
Q合格預置范圍 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 |
Q量程切換 | 自動/手動 | 自動/手動 | 自動/手動 |
LCD顯示參數(shù) | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 |
自身殘余電感和測試引線電感的 | 有 | 有 | 有 |
大電容值直接測量顯示功能(*) | 測量值可達2.5uF | 測量值可達2.5uF | 測量值可達25nF |
介質損耗系數(shù) | 精度 萬分之一 | 精度 萬分之一 | 精度 萬分之一 |
介電常數(shù) | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 |
材料測試厚度 | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm |
- S916（數(shù)顯）或S914介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm （二選一）
液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）
- LKI-1電感組
電感No | 電感量 | 準確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數(shù)測試頻率 | |
QBG-3E/F | AS2853A | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
注意: 可定制100MHz電感.
二 AS2855高頻介電常數(shù)及介質蒜損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:
1 絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC 等
AS2855-A型介電常數(shù)及介質損耗測試系統(tǒng)
產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品型號 | 計量單位 | 數(shù)量 | 原價 |
高頻Q表 | QBG-3E改進型 （10KHz-70MHz） | 臺 | 1 | 7000 |
介質損耗測試夾具 | S916 | 臺 | 1 | 5000 |
電感組 | LKI-1 | 套 | 1 | 5000 |
液體杯（選配） | 用于測試液態(tài)絕緣材料 | 個 | 1 | 500 |
- AS2855-B型介電常數(shù)及介質損耗測試系統(tǒng)
產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品型號 | 計量單位 | 數(shù)量 | 原價 |
高頻Q表 | QBG-3F改進型 （10KHz-110MHz） | 臺 | 1 | 12000 |
介質損耗測試夾具 | S916 | 臺 | 1 | 5000 |
電感組 | LKI-1 | 套 | 1 | 5000 |
液體杯（選配） | 用于測試液態(tài)絕緣材料 | 個 | 1 | 500 |
- AS2855-C型介電常數(shù)及介質損耗測試系統(tǒng)
產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品型號 | 計量單位 | 數(shù)量 | 原價 |
高頻Q表 | AS2853A改進型 （100KHz-160MHz） | 臺 | 1 | 17000 |
介質損耗測試夾具 | S916 | 臺 | 1 | 5000 |
電感組 | LKI-1 | 套 | 1 | 5000 |
100MHz電感（選配） |
| 個 | 1 | 200 |
液體杯（選配） | 用于測試液態(tài)絕緣材料 | 個 | 1 | 500 |
AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)/介質損耗測試系統(tǒng)
AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)介質損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）。
一 AS2855介電常數(shù)/介質損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：
- 主機：AS2853A/QBG-3E/QBG-3F 高頻Q表
功能名稱： | QBG-3E | QBG-3F | AS2853A |
信號源范圍DDS數(shù)字合成信號 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz
| 100KHZ-160MHz |
信號源頻率覆蓋比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
信號源頻率精度 6位有效數(shù) | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 |
Q測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 |
Q分辨率 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 |
Q測量工作誤差 | <5% | <5% | <5% |
電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
電感測量誤差 | <5% | <5% | <5% |
調諧電容 | 主電容30-540pF | 主電容30-540pF | 主電容17-240pF |
電容直接測量范圍 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF |
調諧電容誤差 分辨率 | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF |
諧振點搜索 | 自動掃描 | 自動掃描 | 自動掃描 |
Q合格預置范圍 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 |
Q量程切換 | 自動/手動 | 自動/手動 | 自動/手動 |
LCD顯示參數(shù) | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 |
自身殘余電感和測試引線電感的 | 有 | 有 | 有 |
大電容值直接測量顯示功能(*) | 測量值可達2.5uF | 測量值可達2.5uF | 測量值可達25nF |
介質損耗系數(shù) | 精度 萬分之一 | 精度 萬分之一 | 精度 萬分之一 |
介電常數(shù) | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 |
材料測試厚度 | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm |
- S916（數(shù)顯）或S914介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm （二選一）
液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）
- LKI-1電感組
電感No | 電感量 | 準確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數(shù)測試頻率 | |
QBG-3E/F | AS2853A | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
注意: 可定制100MHz電感.
二 AS2855高頻介電常數(shù)及介質蒜損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:
1 絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC 等
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