AFM配件，原子力探針，AFM探針，原子力探針針尖，顯微鏡探針針尖，原子力針尖，原子力顯微鏡探針針尖，接觸探針，納米壓痕探針，氮化硅探針，硅探針，熱探針，超尖探針，電子探針，顯微鏡針尖，原子力顯微鏡針尖，輕巧模式探針，AFM針尖，接觸式探針，磁性探針，導電探針，顯微鏡探針，探針，布魯克探針，原子力探針，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探針，原子力顯微鏡探針，AFM探針，VEECO探針

作為一家能夠提供AFM/SPM儀器和AFM/SPM探針的企業(yè)，布魯克公司深刻理解每個單獨的組件對于一整套性能AFM系統(tǒng)的價值。布魯克公司以的生產(chǎn)工藝，專業(yè)的AFM領域背景，得天獨厚的生產(chǎn)裝備，賦予探針制造眾多的優(yōu)勢，確保在應用領域中提供完整的AFM解決方案。

布魯克AFM探針制造優(yōu)勢：

*Class100級別的無塵室

*的設計、制造工序及制造工具

*探針設計團隊與AFM設備研發(fā)團隊通力合作，配合緊密

*訓練有素的生產(chǎn)團隊，制造出各種型號的探針

*的質(zhì)量管理體系，確保探針性能行業(yè)

在實驗中，用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質(zhì)量及探針的重復性。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制，的質(zhì)量測試，和AFM領域的專業(yè)背景。所以用戶盡可放心，我們的探針不為您當前的應用提供所需的結(jié)果，同時也能為將來的研究提供參考數(shù)據(jù)。

MicroLever系列

布魯克MicroLever系列的探針具有軟的氮化硅懸臂，氮化硅針尖；是接觸模式，力調(diào)制模式及液態(tài)操作的理想之選。探針懸臂的力常數(shù)的范圍較寬，用戶既可以在柔軟的樣品上使用接觸模式成像，也可以使用較大的力來做載荷-距離的力曲線譜。每顆非套裝的探針分別有6個不同的懸臂，形狀各不相同，所以每個懸臂的力常數(shù)值及共振頻率也不一樣。的懸臂都有<2°的懸臂彎曲。