直觀經(jīng)濟的臺式粗糙度計量設(shè)備

ContourX-100光學(xué)輪廓儀是準確和可重復(fù)的非接觸式表面計量設(shè)備。

該小尺寸系統(tǒng)采用流線型設(shè)計，結(jié)合了數(shù)十年布魯克白光干涉儀（WLI）創(chuàng)新，可提供毫不遜色的2D / 3D高分辨率測量功能。滿足計量要求的臺式系統(tǒng)具有業(yè)界先進的友好用戶界面，可直觀訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具，用于加工的表面，薄膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。

快速、可重復(fù)的三維計量

* 與放大倍率無關(guān)Z軸分辨率

* 大尺寸的標準視場

* 高穩(wěn)定性和重復(fù)性的集成防震設(shè)計

高性能的測量和分析功能

* 易于使用的界面，可快速準確地獲得結(jié)果

* 廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析

* 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內(nèi)的定制化分析報告