彼奧德技術(shù)總監(jiān)儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司總經(jīng)理?xiàng)钫t先生，楊正紅先生作為中國(guó)代表團(tuán)出席第56屆ISO/TC24/SC4標(biāo)準(zhǔn)化會(huì)議，作為中國(guó)顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)委員(sac/tc168)，參加中國(guó)代表團(tuán)并出席本次會(huì)議，代表中國(guó)參加：

第3工作組(wg3,孔徑分布和孔隙率)

第8工作組(wg8,圖像法粒度分析)

第14工作組(wg14,超聲法粒度分析)

第17工作組(wg17,zeta電位測(cè)定方法)

等相關(guān)領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)討論和修訂。

楊正紅先生成為iso/tc24/sc4注冊(cè)會(huì)員 

      楊正紅先生在德國(guó)參加規(guī)模大的粉體機(jī)械加工及分析技術(shù)展(powtech 2019)之后，前往奧地利參加iso會(huì)議。

     會(huì)議期間，楊正紅先生與iso官員dr.matthias thommes教授(埃爾朗根-紐倫堡大學(xué),fau,圖左)和dr.andrei dukhin(美國(guó)分散技術(shù)公司ceo,圖左右)進(jìn)行了學(xué)術(shù)交流，并就對(duì)中國(guó)用戶的超聲粒度分析應(yīng)用支持達(dá)成一致。