產地類別 |
進口 |
價格區(qū)間 |
1千-5千 |
應用領域 |
環(huán)保,化工,能源,電子,汽車 |
HXNi/xx元素單鍍層膜厚標準片(鍍層標準片)是用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測量金屬鍍層厚度時進行標準化校準及建立測試檔案的重要工具。
HXNi/xx元素單鍍層膜厚標準片,又稱測厚儀標準片或膜厚儀校準片,是一種具有已知鍍層厚度的標準樣品。
用途:主要用于X射線測厚儀的校準和測試標準化,以確保測量結果的準確性和可靠性。它適用于PCB(印刷電路板)、五金電鍍、半導體等行業(yè)中對鍍層厚度的精確測量。
適用于費希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi(包括:牛津儀器Oxford(CMI)、精工Seiko)熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀。
美國Calmetrics公司專業(yè)生產X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件,提供對標準件的校準服務,公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供所有證書符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院)標準或ANSI(American National Standards Institute美國國家標準學會)標準。其生產的標準片質量精良,精度高、穩(wěn)定性好。
Ni/xx元素單鍍層膜厚標準片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如:單鍍層:Au/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx,三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx,合金鍍層:Ni-P/xx。