根據(jù)用戶的不同需求來(lái)配組測(cè)試系統(tǒng)，可以測(cè)試各類(lèi)電池（單晶硅、多晶硅、單結(jié)、雙結(jié)以及三結(jié)在內(nèi)的各種形式的薄膜太陽(yáng)電池）的光譜響應(yīng)（Spectral Response）、光譜反射率（Spectral Reflectivity）量子效率(Quantum Efficiency) 或IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency)，光譜透過(guò)率（transmissivity）、短路電流密度（Short-circuit Current Density）等。

系統(tǒng)主要特點(diǎn)及參數(shù)：

1.模組化設(shè)計(jì)，緊扣用戶需求，經(jīng)濟(jì)靈活，適用面廣，升級(jí)、改造、維護(hù)均很方便。

2.可選大功率鹵鎢燈及大功率氙燈光源，也可使用用戶已有的光源。

3.分光系統(tǒng)，保證良好的波長(zhǎng)準(zhǔn)確度和重復(fù)性，消除多級(jí)譜的影響，雜散光小。

4.*弱信號(hào)處理能力，有效提高信噪比，保證測(cè)量精度。

5.多種樣品架供選擇，夾持方便，電極接觸好，對(duì)弱信號(hào)測(cè)試干擾小。

6.自主研發(fā)高性能弱信號(hào)處理器，內(nèi)含隔直前置放大器，有效隔離偏光產(chǎn)生的直流分量，并可進(jìn)行所有控制及信號(hào)的自動(dòng)切換。

7.完整的全自動(dòng)化專用系統(tǒng)軟件：

*集成了分光系統(tǒng)、多級(jí)譜濾除裝置、弱信號(hào)處理系統(tǒng)等的參數(shù)設(shè)置和選擇

*自動(dòng)掃描、信號(hào)放大、A/D、數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理，圖表文件自動(dòng)生成與顯示

*多種格式的數(shù)據(jù)和圖片備份和打印輸出功能

*多組數(shù)據(jù)對(duì)比功能

*粗大誤差的自動(dòng)去除，系統(tǒng)誤差、線性誤差、周期誤差、T誤差的自動(dòng)校驗(yàn)。

系統(tǒng)參數(shù)：

光譜范圍：200-2500nm內(nèi)任選

掃描間隔：≥1nm整數(shù)（可調(diào)）

掃描方式：全自動(dòng)

可配置兩路偏置光源，方便對(duì)三結(jié)以上復(fù)雜薄膜電池的測(cè)試

偏置濾光片：七片，短波通2片（進(jìn)口），長(zhǎng)波通4片

短路電流密度重復(fù)性：<0.1%-0.5%（不同性質(zhì)光源及光譜范圍數(shù)值略有不同）

可選溫控臺(tái)：溫控范圍5-40℃（±0.5℃）

測(cè)試方式：可選交流、直流任意

可選三個(gè)自動(dòng)快門(mén)，分別控制一路主光及兩路偏光開(kāi)閉

可選雙單色儀

可選雙光路監(jiān)視