Messwelk測(cè)量顯微鏡 03990-600型號(hào)

普索貿(mào)易

1、所有產(chǎn)品直接通過(guò)德國(guó)*采購(gòu)，歐元交易享受歐盟區(qū)域特殊折扣。

2、所有產(chǎn)品100％*，原廠Packing List、Invoice、原廠證明、原產(chǎn)地證明、德國(guó)香港海關(guān)關(guān)単手續(xù)齊全。

3、歐盟境內(nèi)5000余家供應(yīng)商，包含施耐德、菲尼克斯等3000多個(gè)工控自動(dòng)化品牌，500多份原廠提供價(jià)格表迅速報(bào)價(jià)。

4、每周法蘭克福-香港空運(yùn)專線，香港-深圳72小時(shí)清關(guān)，貨期優(yōu)勢(shì)較北京、上海等更加快速靈活。

5、公司內(nèi)部無(wú)紙化ERP辦公，詢報(bào)價(jià)處理及時(shí)快速！

由于產(chǎn)品型號(hào)眾多，網(wǎng)上表述不全，如需型號(hào)確認(rèn)或，歡迎咨詢；我們將以認(rèn)真負(fù)責(zé)的態(tài)度、周到細(xì)致的服務(wù)處理您的每一次來(lái)電。

自1939年以來(lái)，Messwelk公司為工業(yè)提供優(yōu)質(zhì)的儀表和測(cè)量?jī)x器。Messwelk公司的成功建立在專家的專業(yè)意見(jiàn)、優(yōu)良的品質(zhì)以及與客戶的緊密合作。

Messwelk主要產(chǎn)品：Messwelk傾角測(cè)量?jī)x、Messwelk軸承測(cè)量系統(tǒng)、Messwelk光學(xué)計(jì)量?jī)x、Messwelk測(cè)量工具

 Messwelk測(cè)量顯微鏡 03990-600型號(hào)

Messwelk光學(xué)測(cè)量?jī)x器，Messwelk投影儀，Messwelk攝像機(jī)，Messwelk鏡頭，Messwelk測(cè)量表，Messwelk測(cè)量板，Messwelk瞄準(zhǔn)裝置，Messwelk棱鏡，Messwelk價(jià)格，Messwelk現(xiàn)貨，Messwelk代理，Messwelk中國(guó)，Messwelk廠家，Messwelk直接報(bào)價(jià)

品牌:MESSWELK 型號(hào):齊全 類(lèi)型:MESSWELK 萬(wàn)能角度尺

德國(guó)Messwelk（麥斯維克）MESSWELK測(cè)厚儀

 型號(hào):齊全 測(cè)量范圍:1-500（mm）

德國(guó)Messwelk（麥斯維克）MESSWELK卡鉗

 型號(hào):齊全 類(lèi)型:卡鉗

德國(guó)MESSWELK（麥斯維克）MESSWELK水平儀

 型號(hào):03189-405 測(cè)量范圍:200（mm）

德國(guó)MESSWELK（麥斯維克）壓力計(jì)

型號(hào):56800 類(lèi)型:MESSWELK數(shù)字壓力計(jì)

MESSWELK氣動(dòng)測(cè)量、MESSWELK檢測(cè)儀器

齊全 外形尺寸:200（mm）

各類(lèi)MESSWELK量規(guī)

 型號(hào):16030 類(lèi)型:MESSWELK螺紋量規(guī)

Messwelk03870-417

Messwelk03870-418

Messwelk03870-425

Messwelk03870-426

Messwelk03870-427

Messwelk03870-428

Messwelk03870-435

Messwelk03870-436

Messwelk03870-437MESSWELK壓力計(jì)

Messwelk03870-438

Messwelk03874-405

Messwelk03874-406MESSWELK壓力計(jì)

Messwelk03874-407

Messwelk03874-408

Messwelk03874-414

Messwelk03874-415

Messwelk03874-416

Messwelk03874-417MESSWELK壓力計(jì)

Messwelk03874-418

Messwelk03874-422

Messwelk03874-423

Messwelk03874-424

Messwelk03874-425

Messwelk03874-426MESSWELK壓力計(jì)

Messwelk03874-427

Messwelk03874-430

Messwelk03874-431

Messwelk03874-432

Messwelk03874-433

Messwelk03874-434MESSWELK壓力計(jì)

Messwelk03874-435

Messwelk03874-436

Messwelk03874-437

Messwelk03880-405

Messwelk03880-406

Messwelk03880-410

Messwelk03880-412

Messwelk03880-413

與STM類(lèi)似，在AFM中，使用對(duì)微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對(duì)樣品表面作光柵式掃描。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時(shí)，針尖原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力(10-12~10-6N)，此時(shí)，微懸臂就會(huì)發(fā)生微小的彈性形變。針尖與樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循虎克定律:F=-k*x ，其中，k為微懸臂的力常數(shù)。所以，只要測(cè)出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。

針尖與樣品之間的作用力與距離有強(qiáng)烈的依賴關(guān)系，所以在掃描過(guò)程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會(huì)隨樣品表面的起伏上下移動(dòng)，記錄針尖上下運(yùn)動(dòng)的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為"恒力"模式(Constant Force Mode)，是使用的掃描方式。

AFM的圖像也可以使用"恒高"模式(Constant Height Mode)來(lái)獲得，也就是在X，Y掃描過(guò)程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過(guò)測(cè)量微懸臂Z方向的形變量來(lái)成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時(shí)用得比較多，而對(duì)于表面起伏比較大的樣品不適用。與STM類(lèi)似，在AFM中，使用對(duì)微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對(duì)樣品表面作光柵式掃描。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時(shí)，針尖原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力(10-12~10-6N)，此時(shí)，微懸臂就會(huì)發(fā)生微小的彈性形變。針尖與樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循虎克定律:F=-k*x ，其中，k為微懸臂的力常數(shù)。所以，只要測(cè)出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。

針尖與樣品之間的作用力與距離有強(qiáng)烈的依賴關(guān)系，所以在掃描過(guò)程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會(huì)隨樣品表面的起伏上下移動(dòng)，記錄針尖上下運(yùn)動(dòng)的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為"恒力"模式(Constant Force Mode)，是使用方式。

AFM的圖像也可以使用"恒高"模式(Constant Height Mode)來(lái)獲得，也就是在X，Y掃描過(guò)程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過(guò)測(cè)量微懸臂Z方向的形變量來(lái)成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時(shí)用得比較多，而對(duì)于表面起伏比較大的樣品不適用。與STM類(lèi)似，在AFM中，使用對(duì)微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對(duì)樣品表面作光柵式掃描。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時(shí)，針尖原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力(10-12~10-6N)，此時(shí)，微懸臂就會(huì)發(fā)生微小的彈性形變。針尖與樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循虎克定律:F=-k*x ，其中，k為微懸臂的力常數(shù)。所以，只要測(cè)出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。

針尖與樣品之間的作用力與距離有強(qiáng)烈的依賴關(guān)系，所以在掃描過(guò)程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會(huì)隨樣品表面的起伏上下移動(dòng)，記錄針尖上下運(yùn)動(dòng)的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為"恒力"模式(Constant Force Mode)，是使用掃描方式。

AFM的圖像也可以使用"恒高"模式(Constant Height Mode)來(lái)獲得，也就是在X，Y掃描過(guò)程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過(guò)測(cè)量微懸臂Z方向的形變量來(lái)成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時(shí)用得比較多，而對(duì)于表面起伏比較大的樣品不適用。與STM類(lèi)似，在AFM中，使用對(duì)微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對(duì)樣品表面作光柵式掃描。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時(shí)，針尖原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力(10-12~10-6N)，此時(shí)，微懸臂就會(huì)發(fā)生微小的彈性形變。針尖與樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循虎克定律:F=-k*x ，其中，k為微懸臂的力常數(shù)。所以，只要測(cè)出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。

針尖與樣品之間的作用力與距離有強(qiáng)烈的依賴關(guān)系，所以在掃描過(guò)程中利用反饋回路保持針尖與樣品之間的作用力恒定，即保持為懸臂的形變量不變，針尖就會(huì)隨樣品表面的起伏上下移動(dòng)，記錄針尖上下運(yùn)動(dòng)的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為"恒力"模式(Constant Force Mode)，是使用掃描方式。

AFM的圖像也可以使用"恒高"模式(Constant Height Mode)來(lái)獲得，也就是在X，Y掃描過(guò)程中，不使用反饋回路，保持針尖與樣品之間的距離恒定，通過(guò)測(cè)量微懸臂Z方向的形變量來(lái)成像。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時(shí)用得比較多，而對(duì)于表面起伏比較大的樣品不適用。