Omniprobe AutoProbe尖頭配件

Omniprobe AutoProbe™ 100、200、250和300等FIB和SEM/FIB系統(tǒng)上使用的全套附件、耗材和升降格柵，如FEI DualBeam™、ZEISS CrossBeam®/NVision、TESCAN FIB-SEM和JEOL JIB-4500。

有多種Omniprobe探針頭可供選擇，適用于不同年代的Omniprobe AutoProbe™系統(tǒng)。

Omniprobe AutoProbe尖頭配件

用于AutoProbe™ 100和200的Ni柄尖頭

用于AutoProbe™ 100和200系統(tǒng)的定制測頭設(shè)計。鎳管柄直徑為0.508mm (0.020")，鎢尖直徑為76µm (0.003")。尖頭半徑為0.5µm，錐角為13°，使用壽命長。鎳柄長約33.25mm (1.31")。鎢尖~35.5mm (1.40")，鎢須從距尖部2.3mm (0.090")開始。

用于AutoProbe™ 100和200的標(biāo)準(zhǔn)W型探頭尖頭

用于AutoProbe™ 100和200系統(tǒng)的定制測頭。全鎢合金設(shè)計，針尖半徑為0.5µm，錐度為10-13°，使用壽命長。刀柄直徑為0.508毫米（0.020"）。

用于AutoProbe™ 100和200的窄W探針尖頭

用于AutoProbe™ 100和200系統(tǒng)的定制窄型測頭。全鎢合金設(shè)計，半徑小于0.5µm，錐度為8-10°。刀柄直徑為0.508毫米（0.020"）。

適用于AutoProbe™ 300和400的原地更換測頭的測頭提示

為AutoProbe™ 300系統(tǒng)定制的探針尖，用于原位探針尖交換系統(tǒng)。帶不銹鋼柄的鎢尖，尖頭半徑為0.5µm，錐角為8-10°。

用于AutoProbe™ 300和400的帶鍵探頭提示

定制的鍵式探針尖，平放在環(huán)上，可在Omniprobe AutoProbe™ 300/400探針尖支架上安全定位。鎢合金探針頭，帶不銹鋼柄，平放在環(huán)上，探針頭半徑為0.5µm，錐度為8-10°。

用于FEI Helios前端口的AutoProbe™ 300和400探頭的測頭

為Omniprobe AutoProbe™ 300/400系統(tǒng)定制的探針頭，減少了針圈直徑，以適應(yīng)FEI Helios前端口系統(tǒng)的50仰角。帶有不銹鋼柄的鎢合金探針頭，環(huán)徑較小，探針頭半徑為0.5µm，錐角為8-10°。

用于FEI Helios前端口的Keyed AutoProbe™ 300和400探頭的測頭

為Omniprobe AutoProbe™ 300/400系統(tǒng)定制的鍵式探針頭，在縮小的軸頸直徑上有一個平坦的探針頭，以適應(yīng)FEI Helios前端口系統(tǒng)上的50仰角。帶有不銹鋼柄的鎢合金探針頭，平放在較小的環(huán)上，探針頭半徑為0.5µm，錐度為8-10°。

AutoProbe™ 250 和 200配備短切箱的提示

用于AutoProbe™ 250和200系統(tǒng)的定制測頭?？膳c短刀兼容。全鎢合金設(shè)計，柄部直徑為0.508mm（0.020"）。探頭半徑優(yōu)于0.5µm，錐度為6°的錐角，精度更高。

AutoProbe™ AP250 探頭支架

定制的測頭支架，用于Autoprobe™ AP250測頭 - #460-105。

GSB-100 儲存箱，適用于 FIB 抬出格柵的儲存箱

GSB-100儲存盒，可容納100個FIB柵格或標(biāo)準(zhǔn)3mm TEM柵格平放。

托盤內(nèi)無粘合劑（ABS材質(zhì)）。空腔尺寸為3.34 x 3.34 x 1.5mm (0.13" x 0.13" x 0.13" x 0.06")。配有透明聚苯乙烯蓋和透明聚丙烯夾子?？莎B放。

總尺寸為55 x 51 x 10.7mm (2.16" x 2" x 0.42")。

防靜電GSB-100儲存箱，適用于FIB吊出格柵的防靜電儲存箱

內(nèi)外尺寸與標(biāo)準(zhǔn)GSB-100儲存箱相同，但採用黑色導(dǎo)電聚丙烯製成的防靜電盤。配有防靜電蓋和聚丙烯夾子?？莎B放。

整體尺寸為55 x 51 x 10.7mm (2.16" x 2" x 2" x 0.42")

PELCO® FIB柵格箱，適用于移出式柵格或半柵格柵

四位格柵盒，帶蓋子，可容納FIB網(wǎng)格或半網(wǎng)格。PELCO® FIB格柵盒的空腔深度只有1.7mm，因此可以防止格柵在菱形空腔中旋轉(zhuǎn)。使用鋒利的鑷子可以相對容易地裝載/卸載FIB格柵。

自動探針™配件

有許多附件可用于協(xié)助FIB銑削的TEM薄片取出程序。

另類的、具有成本效益的選擇。PELCO® FIB樣品準(zhǔn)備支架

低型雙TEM網(wǎng)格支架

低型雙TEM柵格支架可容納2個可升降的柵格，并有一個彈簧式夾爪，便于卸載。該支架具有短的標(biāo)準(zhǔn)銷軸式底座：ø3.2×4mm長（1/8"×0.15"），可容納全晶圓系統(tǒng)中使用的較薄的平臺板。采用鋁制和全無磁性材料。

低型雙TEM網(wǎng)格和樣品架

適用于FIB和SEM/FIB（DualBeam™和CrossBeam®）系統(tǒng)的TEM柵格和樣品支架，帶2個TEM升降柵格和2個樣品支架。該支架具有標(biāo)準(zhǔn)的銷軸式底座：ø3.2 x 8.1mm長（1/8 "x0.32"），與大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)銷軸支架兼容。采用鋁制卡爪和非磁性材料。

低矮型單樣品和格子架

適用于FIB和SEM/FIB系統(tǒng)的單樣品和TEM網(wǎng)格支架，帶兩個TEM升降網(wǎng)格和一個樣品支架。該支架有一個標(biāo)準(zhǔn)的銷軸式底座。3.2 x 8.1mm (1/8" x 0.32")，可與大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)的銷釘支架兼容。由鋁和非磁性材料制成。