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更新時(shí)間:2024-06-15 21:00:07
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聚焦離子束顯微鏡 Helios 5 DualBeam 重新定義了高分辨率成像的標(biāo)準(zhǔn):高材料對(duì)比度,快、簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確的高質(zhì)量樣品制備,用于 S/TEM 成像和原子探針斷層掃描(APT)以及高質(zhì)量的亞表面和 3D 表征。
聚焦離子束顯微鏡特點(diǎn):
更易于使用:
Helios 5 是所有體驗(yàn)級(jí)別用戶容易使用的 DualBeam。操作員培訓(xùn)可以從幾個(gè)月縮短到幾天,系統(tǒng)設(shè)計(jì)可幫助所有操作員在各種高級(jí)應(yīng)用程序上實(shí)現(xiàn)一致、可重復(fù)的結(jié)果。
提高了生產(chǎn)率:
Helios 5 和 AutoTEM 5 軟件的先進(jìn)自動(dòng)化功能,增強(qiáng)的穩(wěn)健性和穩(wěn)定性允許無人值守甚至夜間操作,顯著提高樣品制備通量。
改善時(shí)間和結(jié)果:
Helios 5 DualBeam 現(xiàn)在包括 FLASH,這是一種調(diào)整圖像的新概念。對(duì)于傳統(tǒng)的顯微鏡,每次操作員需要獲取圖像時(shí),必須通過迭代對(duì)中仔細(xì)調(diào)整顯微鏡。使用 Helios 5 DualBeam,屏幕上的簡(jiǎn)單手勢(shì)將激活 FLASH,將自動(dòng)調(diào)整這些參數(shù)。自動(dòng)調(diào)整可以顯著提高通量、數(shù)據(jù)質(zhì)量并簡(jiǎn)化高質(zhì)量圖像的采集。
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