- 簡介
TH2826 系列元件測試儀是符合 LXI 標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測試儀器,其 0.1% 的基本精度、 20Hz ~ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求,可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量??捎糜谥T如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析。
TH2826 系列產(chǎn)品是電子元器件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試強有力的工具。其超 高速的測試速度使其特別適用于自動生產(chǎn)線的點檢機,壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等 等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個電感變壓器廠家的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。TH2826 系列產(chǎn)品 以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)如 IEC 和 MIL 標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。
- 應(yīng)用
■ 無源元件
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析
■ 半導(dǎo)體元件
LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
■ 其它元件
印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
■ 介質(zhì)材料
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
■ 磁性材料
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估
■ 半導(dǎo)體材料
半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
■ 液晶單元
介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
- 技術(shù)參數(shù)
測試參數(shù)
C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,θ,DCR
測試頻率
TH2826A
20 Hz~2MHz,10mHz步進(jìn)
測試信號電平
f≤1MHz
10mV~5V,±(10%+10mV)
f>1MHz
10mV~1V,±(20%+10mV)
輸出阻抗
10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準(zhǔn)確度
0.1%
顯示范圍
L
0.0001 uH ~ 9.9999kH
C
0.0001 pF ~ 9.9999F
R,X,Z,DCR
0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ
Y, B, G
0.0001 nS ~ 99.999 S
D
0.0001 ~ 9.9999
Q
0.0001 ~ 99999
θ
-179.99°~ 179.99°
測量速度
快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準(zhǔn)功能
開路 / 短路點頻、掃頻清零,負(fù)載校準(zhǔn)
等效方式
串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式
自動, 保持
顯示方式
直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式
內(nèi)部, 手動, 外部, 總線
內(nèi)部直流偏
電壓模式
-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)
置源
電流模式(內(nèi)阻為50Ω)
-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)
比較器功能
10檔分選及計數(shù)功能
顯示器
320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器
可保存20組儀器設(shè)定值
接口
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
GPIB(選件)
- 附件
標(biāo)配 | |||||
配件名稱 | 型號 | ||||
夾具 | TH26048 | ||||
短路片 | TH26010 | ||||
帶盒四端絕緣帶鎖Kelvin測試線 | TH26011BS |
選配 | |||||
配件名稱 | 型號 |