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- 簡(jiǎn)介
TH2826 系列元件測(cè)試儀是符合 LXI 標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測(cè)試儀器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，可測(cè)量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測(cè)量?？捎糜谥T如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析。
TH2826 系列產(chǎn)品是電子元器件設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試強(qiáng)有力的工具。其超 高速的測(cè)試速度使其特別適用于自動(dòng)生產(chǎn)線的點(diǎn)檢機(jī)，壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等 等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個(gè)電感變壓器廠家的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。TH2826 系列產(chǎn)品 以其的性能可以實(shí)現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)如 IEC 和 MIL 標(biāo)準(zhǔn)的各種測(cè)試。
- 應(yīng)用
■ 無(wú)源元件
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析
■ 半導(dǎo)體元件
LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
■ 其它元件
印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估
■ 介質(zhì)材料
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估
■ 磁性材料
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估
■ 半導(dǎo)體材料
半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
■ 液晶單元
介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
- 技術(shù)參數(shù)
測(cè)試參數(shù)
C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測(cè)試頻率
TH2826
20 Hz～5MHz,10mHz步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)電平
f≤1MHz
10mV～5V,±（10%+10mV）
f>1MHz
10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗
10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準(zhǔn)確度
0.1%
顯示范圍
L
0.0001 uH ～ 9.9999kH
C
0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR
0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G
0.0001 nS ～ 99.999 S
D
0.0001 ～ 9.9999
Q
0.0001 ～ 99999
θ
-179.99°～ 179.99°
測(cè)量速度
快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準(zhǔn)功能
開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)
等效方式
串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式
自動(dòng), 保持
顯示方式
直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式
內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線
內(nèi)部直流偏
電壓模式
-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)
置源
電流模式（內(nèi)阻為50Ω）
-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)
比較器功能
10檔分選及計(jì)數(shù)功能
顯示器
320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示
存儲(chǔ)器
可保存20組儀器設(shè)定值
接口
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
GPIB（選件）
- 附件
| 標(biāo)配 | |||||
| 配件名稱 | 型號(hào) | ||||
| 夾具 | TH26048 | ||||
| 短路片 | TH26010 | ||||
| 帶盒四端絕緣帶鎖Kelvin測(cè)試線 | TH26011BS | ||||
| 選配 | |||||
| 配件名稱 | 型號(hào) | ||||
