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一、概述

 MegnoMeter XRS顆粒表面特性分析儀，采用核磁共振技術(shù)，能夠快速、準確地測量不同濃度，尤其是高濃度的膠體、乳液和懸浮液中顆粒的比表面積。

MegnoMeter XRS可給出懸浮體系中固體顆?；蛞后w粒子與懸浮劑之間的表面化學(xué)、親和性、潤濕性、濕潤狀態(tài)下顆?；蛄Ｗ拥谋缺砻娣e(非干粉顆粒)。

MegnoMeter XRS可直接測定濃稠態(tài)樣品，無需稀釋或真空干燥處理，采用了分析濕潤狀態(tài)下顆粒(懸浮態(tài))比表面積的全新技術(shù)，即所謂“濕法”。與傳統(tǒng)干粉狀態(tài)下測定顆粒表面特性的儀器（采用BET “干法”）相比，MegnoMeter XRS所提供的數(shù)據(jù)能更加真實地反映分散顆粒界面的實際狀況，尤其是顆粒在工藝流程中(濕潤狀態(tài)下)的行為特性。具有簡便、高效、快捷等特點，可廣泛應(yīng)用于對分散顆粒表(界)面特性的研究、改性、篩選、質(zhì)量控制、工藝改進、新產(chǎn)品開發(fā)等領(lǐng)域。與傳統(tǒng)方法相比，可大大縮短科研、質(zhì)量監(jiān)控所需時間，提高工作效率。

二、工作原理

在含有固體顆?；蛞后w粒子的懸浮、分散體系中，液體分子呈兩種不同的狀態(tài)：自由態(tài)(本體)分子和非自由態(tài)(附著于顆粒表面的)分子。

當(dāng)外界磁場發(fā)生變化時，與自由態(tài)分子和非自由態(tài)分子的運動行為存在著很大的差異性。非自由態(tài)分子受顆粒的嚴格約束，而自由態(tài)分子則不受顆粒的影響而“自由”運動。非自由態(tài)液體分子的核磁共振馳豫時間遠小于自由態(tài)液體的馳豫時間，其差別可以達到幾個數(shù)量級。樣品(懸浮液)的馳豫時間是這兩個馳豫時間的加權(quán)平均值。

由弛豫時間可以推導(dǎo)出樣品(懸浮液)中顆粒的(總)比表面積。

三、技術(shù)優(yōu)勢

•  功能強大：不僅可以測量比表面積，同時也可以獲得粒度分布數(shù)據(jù)。
• “濕法”獲得的粒度分布數(shù)據(jù)比直接測量粒度分布的方法的靈敏度高。
•  測量時間短(少于5分鐘)，與直接測量粒度分布法相近。
•  測試簡單：樣品無需稀釋或前處理，可直接測量。
•  樣品用量少：20μL～0.1mL
•  不破壞樣品：可以隨時重新測量，以了解樣品隨存儲時間的變化規(guī)律。
•  適用性廣泛：適用于任何類型的顆粒（乳液和懸浮液）及任何含有質(zhì)子的液體，也適用于混合液體。
• 濃度范圍寬：0.01% (理論值，推薦>1%)至90+%。
• 測量過程簡單：只輸出一項數(shù)據(jù)，可很好地補充DT系列超聲和電聲法粒度儀及zeta電位儀的相關(guān)功能：
• 適用于鋰電池漿料的生產(chǎn)流程。
• 適用于石墨烯、碳納米管、銀漿以及電子漿料等行業(yè)的監(jiān)測與評估流程。
• 適用于陶瓷、藥物、化妝品、催化劑、墨水甚至紙漿和粘土等行業(yè)中保持粒子分散穩(wěn)定性的簡單易行的質(zhì)控手段。
• 針對危險品的安全保證：可遙控測量有毒、有害、易揮發(fā)的樣品，保證試驗的安全性。

四、應(yīng)用方向

²  研究與開發(fā)：對產(chǎn)品基本配方進行研究，包括對產(chǎn)品顆粒分散性的重現(xiàn)性、穩(wěn)定性（混凝/絮凝）、沉降和沉淀、保質(zhì)期等方面的表征。

²  質(zhì)量控制：原材料質(zhì)量檢測，保證不同批次成品的質(zhì)量穩(wěn)定性。

²  質(zhì)量管理：建立針對原材料特性的表征體系，從源頭控制產(chǎn)品質(zhì)量。

²  過程管理：實時監(jiān)控和跟蹤顆?；旌虾彤a(chǎn)品制造全過程。

五、應(yīng)用領(lǐng)域

²  陶  瓷：濕法加工工藝的管理和改善、顆粒分散性研發(fā)及質(zhì)量控制。

²  納米材料：納米粒子表面的化學(xué)狀態(tài), 如吸附和脫附、比表面積的變化等。

²  電子材料：濃稠狀漿料和研磨液(CMP)的研發(fā)及質(zhì)量控制。

²  油  墨：碳黑、無機/有機顏料的分散、研磨條件、表面親和性及物理/化學(xué)狀態(tài)。

²  能  源：電池、太陽能板等的碳黑、碳納米管和漿料的分散、粒子表面的化學(xué)和物理狀態(tài)。

²  制  藥：不同批次產(chǎn)品質(zhì)量差異導(dǎo)致的API濕潤性、親和性及吸水性的差異。

²  其  它：其它濃稠分散懸浮液體、高縱橫比材料，如納米纖維, 碳納米管等。

六、質(zhì)量控制應(yīng)用說明

在電池、醫(yī)藥、催化劑和電子工業(yè)的生產(chǎn)流程中，粉體原料需要先調(diào)成漿料、與添加劑充分混合，再形成終產(chǎn)品(如在電池漿料中添加導(dǎo)電劑的生產(chǎn)過程)。其中，顆粒分散度是確保產(chǎn)品質(zhì)量與性能的一項至關(guān)重要的因素。

在生產(chǎn)實踐中，難以保證各批次固體顆粒分散性的統(tǒng)一，因此容易導(dǎo)致配方、工藝相同但原料來源、批次不同的終成品在質(zhì)量和性能上的差異。

雖然目前的動態(tài)光散射技術(shù)、超聲法粒度、zeta電位技術(shù)和多重光散射技術(shù)均可用來測定漿料性質(zhì)，但這些技術(shù)或者需要其它輔助參數(shù)才能準確計算，或者需要有經(jīng)驗的人員去解讀數(shù)據(jù)，很難適應(yīng)生產(chǎn)環(huán)節(jié)的質(zhì)控需求。

MegnoMeter XRS顆粒表面特性分析儀利用測得的核磁共振馳豫時間數(shù)據(jù)，判斷乳液或懸浮體系中“顆粒”與“溶劑”之間的表面化學(xué)性、親和性和浸潤性，從而計算出液體或漿料體系中的顆粒比表面積。通過快速測量，判斷出顆粒的分散程度，據(jù)此調(diào)整工藝、控制顆粒分散性，提高產(chǎn)品性能，符合當(dāng)下的市場需求，尤其適用于石墨烯和碳納米管、化妝品和油墨等眾多行業(yè)領(lǐng)域。