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J200 LIBS元素分析系統(tǒng)
  • J200 LIBS元素分析系統(tǒng)
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貨物所在地:北京北京市

更新時間:2024-10-11 09:23:16

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J200 LIBS元素分析系統(tǒng),是美國ASI公司開發(fā)的LIBS產(chǎn)品,系統(tǒng)基于30多年激光剝蝕基礎理論研究成果,系統(tǒng)快速、可靠、環(huán)保,可適應從實驗室到現(xiàn)場再到生產(chǎn)車間的各種應用環(huán)境。

J200 LIBS元素分析系統(tǒng)  


一、簡介

     J200 LIBS元素分析系統(tǒng)是美國ASI公司開發(fā)的LIBS產(chǎn)品,系統(tǒng)基于30多年激光剝蝕基礎理論研究成果,系統(tǒng)快速、可靠、環(huán)保,可適應從實驗室到現(xiàn)場再到生產(chǎn)車間的各種應用環(huán)境。


二、系統(tǒng)功能

J200 LIBS元素分析系統(tǒng)專為處理需高靈敏度和準確性的分析而設計,周期表中許多元素檢測限可達ppm個位數(shù)。系統(tǒng)實現(xiàn)了從氫元素到钚元素全元素的測量,包括H、N、O等輕元素以及鹵族等其他傳統(tǒng)方法(包括ICP-MS)不能測量的元素。系統(tǒng)*的設計確保每個激光脈沖的可重復測量結(jié)果。

J200將LIBS技術和ICP-MS結(jié)合,將剝蝕出的納米級固體樣品微粒直接送入ICP-MS進行更準確的分析,有效避免酸溶、消解等樣品前處理帶來的二次污染和可能的誤差引入,同時提升元素檢測限,實現(xiàn)ppb以下至100%含量測量范圍,還能進行元素空間分布制圖(elements mapping)。此外,系統(tǒng)在分析同位素的同時還能進行主量元素分析。

J200 LIBS元素分析系統(tǒng)目前已用于美國勞倫斯伯克利國家實驗室、美國大克拉曼多實驗室 、巴西圣保羅大學、 美國西北太平洋國家實驗室等機構(gòu)。


檢測范圍J200 LIBS元素分析系統(tǒng)可分析各種樣品,包括土壤,植物,礦石、生物組織,刑偵材料(玻璃、油墨等),合金,半導體,絕緣體,塑料,薄涂層和電子材料等等。


檢測元素種類:

常量元素N, P, K, Ca, Mg, S

微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl

痕量元素:可檢測化學周期表上大部分元素

有機元素C、H、O輕元素 Li、Be、Na等(其他技術難同時檢測)

同位素(升級與ICP-MS 聯(lián)用測量)


三、應用領域

  • 常規(guī)土壤元素分析

  • 土壤污染檢測

  • 刑偵微量物證分析

  • 煤粉組分分析

  • 礦物巖石檢測

  • 生物組織分析

  • 農(nóng)產(chǎn)品安全分析

  • 合金分析

  • 寶石鑒定

  • 各種材料分析


四、系統(tǒng)硬件

 優(yōu)化等離子體光收集。J200 LIBS采用*的聚光光學設計,將大量的等離子光耦合到檢測器模塊,實現(xiàn)高靈敏度測量。

 系統(tǒng)確保高準確性和可重復性。LIBS分析種提高LIBS數(shù)據(jù)精度的關鍵要求之一是激光始終如一的聚焦到樣品表面。剝蝕導航激光和樣品高度自動調(diào)整傳感器相結(jié)合,解決了樣品表面凹凸不平導致剝蝕不均勻的問題。激光能量穩(wěn)定閥確保到達樣品表面的激光能量穩(wěn)定一致,系統(tǒng)標配3D全自動操作臺。這確保系統(tǒng)分析準確且可重復。

 系統(tǒng)可升級與ICP-MS連用,在進行LIBS元素分析的同時,將固體樣品剝蝕顆粒直接送入ICP-MS系統(tǒng),實現(xiàn)更準確分析。這彌補了ICP-MS不能測量部分輕元素的不足,也避免了復雜樣品前處理及由此引入的二次污染和誤差。系統(tǒng)可與市面上絕大多數(shù)ICP-MS聯(lián)用。

 系統(tǒng)標配固體樣品室,還可選擇配置氣體或液體樣品室,通過設置可自動切換光路系統(tǒng),實現(xiàn)固、液、氣體樣品室在同一系統(tǒng)中的自動化切換,無需人為拆卸。

 系統(tǒng)的硬件采用模塊化設計,易于更新。激光器和光譜儀(檢測器)可根據(jù)樣品的種類及用戶研究目的進行升級,兩者均不受外界環(huán)境溫度影響,無需進行特殊的環(huán)境控制,使用壽命長。

 系統(tǒng)具備雙攝像系統(tǒng),分別用于廣角成像整體觀察樣品確定采樣區(qū)域,然后另一個成像系統(tǒng)放大樣品區(qū)域進行采樣。

 激光能量和激光光斑大小連續(xù)可調(diào),激光脈沖能量穩(wěn)定一致,可實現(xiàn)樣品分層剝蝕、夾雜物和微光斑分析(直徑小可達5μm)、元素分布制圖、高精度定量等多種分析。


五、系統(tǒng)軟件

 系統(tǒng)軟件能實現(xiàn)對所有硬件組件的控制,能提供多種采樣模式,包括直線、曲線、隨機點、網(wǎng)格任意大小和自定義采樣等,通過設置參數(shù),可在無人值守的條件下自動進行大面積采樣。

ASI公司的TruLIBS™數(shù)據(jù)庫是等離子體發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫,與NIST數(shù)據(jù)庫相比,TruLIBS™數(shù)據(jù)庫能快速、準確地識別復雜的元素譜線,各種搜索功能,如波長范圍、元素種類和等離子體激發(fā)態(tài),將搜索時間縮短至幾秒。TruLIBS™同時允許用戶直接上傳元素激光誘導特征譜線,進行譜峰的識別和標記。

 系統(tǒng)內(nèi)置的數(shù)據(jù)分析軟件功能強大、分析速度快。能任意選取譜線及背景,自動計算譜線的凈強度;計算兩個波峰之比;自動計算所有波峰的標準偏差;同步分析所有文件夾及目錄下的測量數(shù)據(jù)。多次采樣時,軟件自動統(tǒng)計監(jiān)測LIBS的強度 ,監(jiān)控信號質(zhì)量,獲得準確的定性和定量分析結(jié)果。

 數(shù)據(jù)分析軟件具有單變量和多變量校準曲線制定功能,易于完成高精度定量分析。單變量標定曲線對于基質(zhì)較為簡單的樣品分析效果較好。多變量標準曲線用于分析基質(zhì)較為復雜的樣品,例如土壤、植物樣品等,以減少基質(zhì)中其它元素對目標元素的影響,提高分析準確性。

J200的數(shù)據(jù)分析軟件還整合了PCA、PLS-DA、多參數(shù)線性回歸等多種化學統(tǒng)計分析功能??蓪悠愤M行快速分類鑒別,并可通過樣品某一特定元素的二維或三維分布制圖,展示樣品的元素空間分布。



產(chǎn)地:美國


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