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晶圓表面形貌參數(shù)測(cè)量?jī)x
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000晶圓表面形貌參數(shù)測(cè)量?jī)x通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓形貌測(cè)量?jī)x晶圓表面測(cè)量?jī)x無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓表面測(cè)量?jī)x
2024/7/15 11:18:24691
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亞納米分辨率晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
中圖儀器WD4000亞納米分辨率晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)高分辨率晶圓量測(cè)系統(tǒng)晶圓量測(cè)系統(tǒng)晶圓量測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測(cè)系統(tǒng)
2024/7/9 15:14:04658
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芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀
參考價(jià): ¥960000
參考價(jià): 960000
型號(hào):SuperViewW1
中圖儀器SuperViewW系列芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并...
型號(hào): SuperView...
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
芯片光學(xué)輪廓儀半導(dǎo)體晶圓光學(xué)輪廓儀非接觸式光學(xué)輪廓儀晶圓3d表面輪廓儀半導(dǎo)體晶圓輪廓儀
2024/7/9 15:11:58827
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無圖晶圓粗糙度測(cè)量設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000無圖晶圓粗糙度測(cè)量設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像,實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓粗糙度測(cè)量設(shè)備晶圓測(cè)量設(shè)備無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓粗糙度測(cè)量晶圓檢測(cè)設(shè)備
2024/7/4 17:56:03739
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晶圓制程檢測(cè)設(shè)備幾何量測(cè)系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000晶圓制程檢測(cè)設(shè)備幾何量測(cè)系統(tǒng)通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓檢測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)設(shè)備無圖晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng)
2024/7/4 10:05:51628
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晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓厚度形貌測(cè)量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓厚度量測(cè)設(shè)備晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)
2024/7/3 10:26:11985
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晶圓形貌測(cè)量設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000晶圓形貌測(cè)量設(shè)備自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。能實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TT...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)無圖晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備晶圓測(cè)量系統(tǒng)
2024/7/2 10:13:56833
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無圖晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000無圖晶圓幾何形貌測(cè)量設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓幾何測(cè)量設(shè)備晶圓測(cè)量設(shè)備無圖晶圓幾何測(cè)量設(shè)備無圖晶圓形貌測(cè)量設(shè)備
2024/6/26 10:44:17906
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晶圓測(cè)量設(shè)備幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000晶圓測(cè)量設(shè)備幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓幾何測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備
2024/6/25 11:26:36798
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晶圓厚度高精度測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000晶圓厚度高精度測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、B...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓厚度測(cè)量半導(dǎo)體晶圓測(cè)量
2024/6/24 17:53:46749
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無圖晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000無圖晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)是通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
無圖晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓形貌檢測(cè)晶圓測(cè)量設(shè)備
2024/6/24 17:36:51774
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半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
半導(dǎo)體晶圓量測(cè)系統(tǒng)無圖晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備
2024/6/24 10:15:53789
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晶圓平整度翹曲度測(cè)量設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000晶圓平整度翹曲度測(cè)量設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像,實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓平整度測(cè)量設(shè)備晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)備晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備
2024/6/21 10:01:591046
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國(guó)產(chǎn)晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000國(guó)產(chǎn)晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV、BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓形貌量測(cè)設(shè)備晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓量測(cè)設(shè)備
2024/6/20 10:52:23864
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無圖晶圓厚度翹曲度粗糙度測(cè)量機(jī)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
中圖儀器WD4000無圖晶圓厚度翹曲度粗糙度測(cè)量機(jī)通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓測(cè)量機(jī)晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓粗糙度測(cè)量機(jī)
2024/6/18 9:57:03744
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晶圓翹曲度表面形貌檢測(cè)設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000系列
WD4000晶圓翹曲度表面形貌檢測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建。它采用的高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D ...
型號(hào): WD4000系列
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度檢測(cè)設(shè)備晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備無圖晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量設(shè)備
2024/6/18 9:26:01680
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晶圓厚度粗糙度微納三維形貌測(cè)量?jī)x器
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000系列
WD4000晶圓厚度粗糙度微納三維形貌測(cè)量?jī)x器自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的...
型號(hào): WD4000系列
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓厚度測(cè)量?jī)x器晶圓粗糙度測(cè)量?jī)x器晶圓三維形貌測(cè)量?jī)x器晶圓測(cè)量?jī)x器無圖晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)
2024/6/12 14:04:35615
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晶圓三維形貌測(cè)量設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
中圖儀器WD4000晶圓三維形貌測(cè)量設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LT...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓測(cè)量設(shè)備三維形貌測(cè)量?jī)x晶圓形貌測(cè)量設(shè)備無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
2024/6/11 9:50:41726
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晶圓厚度晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
中圖儀器WD4000晶圓厚度晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓厚度測(cè)量?jī)x晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓幾何形貌測(cè)量?jī)x
2024/6/7 9:49:53861
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晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000系列晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓幾何量測(cè)設(shè)備無圖晶圓幾何量系統(tǒng)
2024/5/14 7:18:43929
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半導(dǎo)體晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像,實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
半導(dǎo)體晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)晶圓檢測(cè)機(jī)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓厚度測(cè)量設(shè)備
2024/5/13 21:20:43891
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半導(dǎo)體晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000系列半導(dǎo)體晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、L...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備晶圓檢測(cè)機(jī)
2024/5/13 21:02:201409
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晶圓幾何形貌自動(dòng)檢測(cè)機(jī)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000系列晶圓幾何形貌自動(dòng)檢測(cè)機(jī)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓檢測(cè)機(jī)晶圓形貌檢測(cè)機(jī)晶圓幾何形貌檢測(cè)機(jī)晶圓自動(dòng)檢測(cè)機(jī)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
2024/5/13 20:47:35859
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晶圓表面形貌測(cè)量設(shè)備
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):WD4000
WD4000晶圓表面形貌測(cè)量設(shè)備自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚??蓮V泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏...
型號(hào): WD4000
品牌:CHOTEST/中圖儀器所在地:深圳市
對(duì)比
晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓表面粗糙度測(cè)量設(shè)備晶圓表面形貌測(cè)量晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)
2024/5/13 19:51:23962