對粒度分析來說，沒有一種測試技術能夠滿足所有材料的應用需求，選擇正確的測試方法是獲得可靠數據的關鍵，美國麥克儀器公司提供多種測定顆粒數量以及粒度分布的儀器，對應不同的測試方法，滿足不同的應用。
納米粒度與Zeta電位解決方案-Nanoplus納米粒度與Zeta電位儀
NanoPlus是*的利用光子相關光譜法和電泳光散射技術測量粒度、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結構緊湊、易于使用、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個樣品池，滿足不同用戶的應用。
· 三種型號可選：納米粒度儀、Zeta電位儀，納米粒度與Zeta電位儀
· 測量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm~12.3μm，濃度范圍0.00001%~40%
· 測量懸浮液樣品Zeta電位范圍：無范圍限制，濃度范圍：0.001%~40%
· 可配備自動滴定儀以及多種樣品池
費氏粒徑解決方案-SAS全自動費氏粒徑測試儀
麥克儀器SAS全自動費氏粒徑測試儀，是由費氏95粒徑儀（FSSS）發(fā)展和升級而來，空氣滲透技術是*的粉體樣品比表面積（SSA）測試技術。使用該技術測定的SSA數據已經在多個行業(yè)廣泛使用，例如：藥物、金屬涂料、顏料和地質等行業(yè)
· 粒徑范圍：0.2-75μm
· 設計生產費氏粒度數據，保證數據一致性
· 安裝方便，實時數據顯示
電阻法顆粒技術解決方案- ElzoneⅡ顆粒計數與粒度分析儀
ElzoneⅡ顆粒計數與粒度分析儀采用電阻法這種有效的顆粒粒度表征技術，適用于同時分析具有不同光學性質、密度、顏色和形狀的顆粒樣品可迅速、地檢測精細顆粒材料的尺寸、數目、濃度以及質量。ElzoneⅡ被廣泛應用于工業(yè)、生物、地質等粒度大于0.4μm的顆粒，具有*的準確度和分辨率，操作非常簡便。
· 測量范圍：0.4到266μm，有機或者無機材料
· 可使用不同的導電液，不需要輸入液體性質參數
· 無需事先獲得材料性質參數（密度、折射率等）
· 全自動操作：啟動、運行、關閉、檢測并清除障礙物、沖洗和校準
· CCD照相機可實時視頻顯示光圈
X光沉降粒度解決方案-SediGraph IIX光沉降粒度分析儀
結合成熟的SediGraph分析技術， SediGraph III通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度，無需模型，儀器有很好的重復性、性和重現性。
· 粒度范圍：0.1到300μm
· 高精度X射線管，7年保修
· 可選的MasterTech 052自動進樣器進行18個樣品的自動分析
動態(tài)圖像法粒度分析解決方案-Particle Insight全自動粒形分析儀
Particle Insight是一款現代化的動態(tài)圖像分析儀，對于那些不僅由于顆粒大小，并且也必須由顆粒形狀來確定原材料性能的應用，Particle Insight是理想的工具。
· 三種型號-1到150μm, 3到300μm, 10到800μm
· 具有*的光學、高幀頻、高分辨率的攝像頭，使數萬的顆粒分析能在幾秒內完成。所有形狀參數的數據實時顯示
· 30種尺寸/形狀參數可選，更的客戶控制
· 所有分析過的粒子都有縮略圖，用來篩選與察看形狀的顆粒。從單個粒子圖像捕獲參數，可用來監(jiān)測罕見顆粒
· 循環(huán)樣品模塊和類似激光衍射系統的光學系統能夠在徆短的時間內統計有效測量。標準系統適用于水相和有機液體
· 適用于水或有機溶液
激光粒度解決方案- Saturn DigiSizer II全自動高分辨率激光粒度分析儀
采用航天級的電荷耦合器CCD技術和超過三百萬個檢測器保證儀器獲得*的分辨率和的數字化散射圖樣以獲得*重現性的結果，即使對于復雜材料也可以獲得高分辨率的結果。
· CCD檢測器提供40納米到2.5毫米范圍內高分辨率檢測
· 測試速度快，高重現性試驗數據
· 自動進樣器可完成自動采樣、稀釋和分散樣品
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