供貨周期 | 一個(gè)月 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源 |
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大節(jié)點(diǎn)數(shù):2592
大通道數(shù):576
占用面積:1.6 m x 0.8 m / 5.0’ x 2.6’
大模塊數(shù):2
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-02-18 18:51:04瀏覽次數(shù):649
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是德keysight E9905E 2 ICT系統(tǒng)-i307x系列5
E9905E i317x 系列 5 系統(tǒng)旨在滿足大多數(shù)主流電子制造商使用更小尺寸的測(cè)試機(jī)臺(tái)完成在線測(cè)試的需求。該系統(tǒng)采用與上一代產(chǎn)品――E9905D i307x 系統(tǒng)相同的易用型 GUI(圖形用戶界面)。自第/一款系列 1 3070 測(cè)試系統(tǒng)面市以來的數(shù)十年中,該系統(tǒng)一直保持著可移植性、可靠性和穩(wěn)定性(TRS),包括當(dāng)今元件所需要的使用低電壓測(cè)試的能力。
所有 i3070 系列 5 測(cè)試系統(tǒng)均加入了新的基礎(chǔ)架構(gòu),以便更加靈活地添加、控制和連接外部電子設(shè)備或儀器。該系統(tǒng)允許將外部電子設(shè)備插入測(cè)試頭,如同該設(shè)備已經(jīng)集成與系統(tǒng)中。外部電子設(shè)備可以是功能性測(cè)試電路,用于為 ICT 提供額外的功能測(cè)試范圍,或者為被測(cè)單元提供額外的激勵(lì),以改善測(cè)試覆蓋范圍。外部電子設(shè)備控制、測(cè)試順序和測(cè)試結(jié)果仍通過 BT-BASIC 測(cè)試計(jì)劃來實(shí)現(xiàn),由用戶熟悉的測(cè)試頭 PC 控制器執(zhí)行。
為了支持增強(qiáng)的性能,PCBA 如今擁有更高的電流要求,因此可通過測(cè)試儀向被測(cè)單元送入 10 A 的電流。電源端口也可經(jīng)過多路復(fù)用處理,所以一個(gè)電源可以多向一個(gè)面板中不同的 6 個(gè)電路板供電,每個(gè)電源通道都由一個(gè)繼電器控制,以保護(hù)被測(cè)單元。
i3070 系列 5 測(cè)試系統(tǒng)包含了一個(gè)新的模擬激勵(lì)和測(cè)量單元(ASRU),可將模擬測(cè)試速度提高 20%,進(jìn)而提高產(chǎn)量。
此前版本中的受限接入測(cè)試工具也包含在該測(cè)試系統(tǒng)中。
如果您的大型電路板需要速度更快,測(cè)試覆蓋率更高的測(cè)試,那么,E9903E i307x 系列 5 系統(tǒng)將是/佳選擇。
所有 Medalist i3070 測(cè)試系統(tǒng)都支持多路復(fù)用(Mux)pin卡和非多路復(fù)用(UnMux)pin卡。這樣,在您使用該系統(tǒng)時(shí)就會(huì)有更多的靈活性。
特性 | Analog Plus (Mux) | Access Plus (Mux) | Hybrid Plus (Mux) | Hybrid 144 (Unmux) |
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每個(gè) pin 卡的測(cè)試節(jié)點(diǎn) | 144 | 8 x 高頻率 10:28 儀器端口 24 x 通用繼電器 | 144 | 144 |
每個(gè) pin 卡的數(shù)字通道 | 無 | 無 | 16 | 144 |
大數(shù)字向量執(zhí)行速率/頻率 | 無 | 高頻:100MHz 儀器端口:25MHz 通用繼電器:無 | 6/12/20 MPS | 6 MPS |
每個(gè)模塊/系統(tǒng)的大 pin 卡數(shù)** | 9/18 | 9/18 | 9/18 | 9/18 |
模擬電壓范圍 | 0-100V | 0-100V | 0-100V | 0-100V |
數(shù)字驅(qū)動(dòng)/接收范圍 | 無 | 無 | -3.5 至 5.0V | 0 至 4.75V |
數(shù)字測(cè)試的向量周期精度 | 無 | 無 | +/- 10 nS | +/- 10 nS |
是德keysight E9905E 2 ICT系統(tǒng)-i307x系列5