LCR-8230/8230A 固維LCR-8200/A系列高頻LCR測(cè)試儀，頻率范圍 1MHz 至 50MHz。它能精準(zhǔn)測(cè)定電感、電容、電阻等參數(shù)，基本精度 0.1%，50000 計(jì)數(shù)分辨率確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。該測(cè)試儀有自動(dòng)元件識(shí)別功能，支持 2 線或 5 線測(cè)量，測(cè)試電平可選 AC 0.3V/0.7V/1Vrms 及 DC±1V，還配備 USB 接口用于數(shù)據(jù)傳輸與遠(yuǎn)程控制，可高效助力電子元件生產(chǎn)檢測(cè)
LCR-8230/8230A固維LCR-8200/A系列高頻LCR測(cè)試儀的詳細(xì)技術(shù)參數(shù)、性能特點(diǎn)：
LCR-8230/8230A固維LCR-8200/A系列高頻LCR測(cè)試儀作為優(yōu)秀高頻 LCR 測(cè)試儀，憑借其強(qiáng)大的性能，在電子元件測(cè)量領(lǐng)域占據(jù)重要地位，為電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)展提供了堅(jiān)實(shí)的技術(shù)支撐。
一、精準(zhǔn)的測(cè)量能力
頻率覆蓋范圍：頻率范圍設(shè)定在 1MHz 至 50MHz，這一區(qū)間覆蓋了眾多高頻電子元件的關(guān)鍵工作頻段。在射頻電路設(shè)計(jì)中，如藍(lán)牙、Wi-Fi 模塊等無線通信設(shè)備的電路搭建，其內(nèi)部的電感、電容等元件在該高頻段的性能對(duì)信號(hào)傳輸質(zhì)量起著決定性作用。LCR - 8230/8230A 能夠在此頻率范圍內(nèi)精確測(cè)量元件參數(shù)，幫助工程師準(zhǔn)確把握元件特性，優(yōu)化電路設(shè)計(jì)，確保無線通信設(shè)備穩(wěn)定、高效運(yùn)行。在藍(lán)牙 5.0 模塊的研發(fā)過程中，通過該測(cè)試儀對(duì)高頻電感和電容的精準(zhǔn)測(cè)量，可有效提升模塊的信號(hào)傳輸距離和穩(wěn)定性。
多參數(shù)測(cè)量功能：具備全面的測(cè)量能力，可精確測(cè)定電感（L）、電容（C）、電阻（R）、電抗（X）、阻抗（Z）、品質(zhì)因數(shù)（Q）、損耗因數(shù)（D）、相位（θ）以及直流電阻（Rdc）等參數(shù)。以高頻電感為例，在開關(guān)電源的高頻變壓器設(shè)計(jì)中，不僅需要精確測(cè)量電感值，品質(zhì)因數(shù) Q 值也至關(guān)重要，它反映了電感在高頻工作時(shí)的能量損耗情況。LCR - 8230/8230A 能夠同時(shí)準(zhǔn)確測(cè)量電感值與 Q 值，為變壓器的設(shè)計(jì)優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)，提升開關(guān)電源在高頻下的轉(zhuǎn)換效率和穩(wěn)定性。
二、出色的精度與分辨率
高分辨率顯示：主顯示器和輔助顯示器均擁有 50,000 計(jì)數(shù)分辨率，基本精度可達(dá) 0.1%。在測(cè)量高精度電容時(shí)，高分辨率能夠清晰展現(xiàn)電容值的細(xì)微變化，0.1% 的高精度確保測(cè)量結(jié)果與真實(shí)值高度接近。在航空航天、軍事電子等對(duì)元件參數(shù)精度要求極為苛刻的領(lǐng)域，LCR - 8230/8230A 的高精度測(cè)量能力可有效保障電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。例如在衛(wèi)星通信設(shè)備的制造中，對(duì)電容、電感等元件參數(shù)的微小偏差都可能影響信號(hào)傳輸質(zhì)量，該測(cè)試儀的高精度測(cè)量為衛(wèi)星通信設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行提供了有力保障。
靈活的測(cè)量模式與速度：支持 2 線或 5 線測(cè)量方式，能夠適應(yīng)不同類型元件和復(fù)雜測(cè)試場(chǎng)景的需求。測(cè)量速度具備多種選擇，快速模式下每秒可進(jìn)行 10 次測(cè)量，適用于大規(guī)模生產(chǎn)線上元件的快速篩選，能夠大幅提高檢測(cè)效率，降低生產(chǎn)成本。在電子元件生產(chǎn)企業(yè)的自動(dòng)化生產(chǎn)線上，利用快速測(cè)量模式可快速識(shí)別大量元件中的不良品。而在研發(fā)測(cè)試場(chǎng)景中，當(dāng)對(duì)測(cè)量精度要求高且時(shí)間相對(duì)充裕時(shí)，可選擇慢速模式，每秒測(cè)量 2.5 次，以獲取更為精準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果，滿足科研人員對(duì)新型電子元件特性研究的需求。
三、豐富實(shí)用的功能特性
自動(dòng)元件識(shí)別：擁有智能的自動(dòng)元件類型識(shí)別功能，當(dāng)進(jìn)入自動(dòng) LCZ 模式后，儀器能夠迅速判斷接入的元件是電感、電容還是電阻，并自動(dòng)選擇最適宜的測(cè)量模式。在電子維修工作中，面對(duì)復(fù)雜電路板上種類繁多的元件，維修人員使用 LCR - 8230/8230A 時(shí)，無需手動(dòng)繁瑣地判斷元件類型并設(shè)置測(cè)量模式，儀器的自動(dòng)識(shí)別功能極大地簡(jiǎn)化了操作流程，能夠快速確定故障元件參數(shù)，顯著提高維修效率。例如在維修智能手機(jī)主板時(shí)，可快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類電感、電容元件，幫助維修人員快速定位故障元件。
可選測(cè)試電平：提供 AC 0.3V/0.7V/1Vrms 和 DC±1V 等多種可選測(cè)試電平。不同電子元件的耐壓特性存在顯著差異，對(duì)于低耐壓電容，選擇較低的測(cè)試電平可有效避免因電壓過高而損壞元件；而對(duì)于高耐壓元件，選用合適的高電平進(jìn)行測(cè)試，能夠使測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確地反映元件在實(shí)際工作電壓下的性能。在電容器生產(chǎn)過程中，針對(duì)不同耐壓等級(jí)的電容產(chǎn)品，可靈活調(diào)整測(cè)試電平，確保測(cè)量的準(zhǔn)確性與元件的安全性。例如在生產(chǎn)用于消費(fèi)電子產(chǎn)品的低耐壓陶瓷電容時(shí)，可選擇 AC 0.3V 的測(cè)試電平進(jìn)行測(cè)量，而對(duì)于工業(yè)電源中使用的高耐壓電解電容，則可選用 DC 1V 的測(cè)試電平。
比較與數(shù)據(jù)保持：配備比較功能，用戶可預(yù)先設(shè)定元件參數(shù)的合格范圍，在測(cè)量過程中，儀器能夠快速判斷元件是否符合預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)。在電子元件批量生產(chǎn)檢測(cè)環(huán)節(jié)，通過該功能可快速篩選出不良品，有效提高生產(chǎn)質(zhì)量控制效率。數(shù)據(jù)保持功能可將測(cè)量數(shù)據(jù)鎖定，方便用戶在復(fù)雜實(shí)驗(yàn)環(huán)境或繁忙的生產(chǎn)線上及時(shí)記錄和查看數(shù)據(jù)，避免數(shù)據(jù)遺漏。在實(shí)驗(yàn)過程中，研究人員可隨時(shí)鎖定關(guān)鍵測(cè)量數(shù)據(jù)，便于后續(xù)深入分析。例如在對(duì)新型電子元件進(jìn)行多組實(shí)驗(yàn)測(cè)量時(shí)，可利用數(shù)據(jù)保持功能記錄不同條件下的測(cè)量數(shù)據(jù)，為研究元件性能變化規(guī)律提供依據(jù)。
四、便捷的接口與軟件支持
豐富接口配置：配備 USB 接口，包括 USB - HID 和 USB - VCOM 接口。借助 USB - HID 接口，可方便地與計(jì)算機(jī)等設(shè)備連接，實(shí)現(xiàn)高效的數(shù)據(jù)傳輸與遠(yuǎn)程控制。在自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中，計(jì)算機(jī)通過該接口向 LCR - 8230/8230A 發(fā)送指令，控制儀器完成一系列測(cè)量操作，并實(shí)時(shí)獲取測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理。USB - VCOM 接口則為設(shè)備間的通信提供了便利，有助于其融入復(fù)雜的自動(dòng)化測(cè)試生產(chǎn)線，實(shí)現(xiàn)多設(shè)備協(xié)同工作，提升整體測(cè)試效率。在大規(guī)模電子元件生產(chǎn)企業(yè)的自動(dòng)化測(cè)試車間中，多臺(tái) LCR - 8230/8230A 可通過 USB 接口與中央控制系統(tǒng)連接，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化、智能化的批量測(cè)試。
軟件支持：提供免費(fèi)的 PC 軟件，且軟件指令與 SCPI（Standard Commands for Programmable Instruments）兼容。這使得用戶能夠根據(jù)自身需求編寫個(gè)性化軟件，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集與分析的定制化。在科研項(xiàng)目中，研究人員可利用該兼容性，編寫特定軟件，對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行深度挖掘與分析，探索元件參數(shù)與特定實(shí)驗(yàn)條件之間的內(nèi)在關(guān)聯(lián)規(guī)律，為科研工作提供有力的數(shù)據(jù)支持與決策依據(jù)。例如在研究新型材料制成的電子元件特性時(shí)，可編寫專門的軟件對(duì)大量測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，找出元件參數(shù)與材料特性、環(huán)境因素之間的關(guān)系，為材料的優(yōu)化和元件的改進(jìn)提供參考。
