Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業(yè)相機鏡頭 (1392 x 1040) 參考價：面議
Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業(yè)相機鏡頭 (1392 x 1040)這款柔性冷卻相機支持多種索尼CCD傳感器，滿足了大多數(shù)科學原始設備制造商和顯微鏡...
InGaAs 銦鎵砷近紅外相機鏡頭 950-1700nm (128(H)x128(V)) 參考價：9999
InGaAs 銦鎵砷近紅外相機鏡頭 950-1700nm(128(H)x128(V))ARTCAM-TNIR系列包括3種近紅外相機，采用640 x 512 / ...
近紅外InGaAs銦鎵砷相機鏡頭 400-1700nm 參考價：9999
近紅外InGaAs銦鎵砷相機鏡頭400-1700nm產(chǎn)品總覽近紅外InGaAs銦鎵砷相機 990SWIR400-1700nm產(chǎn)品包括：1） 相機2） USB3....
BOSA 400 高分辨率光譜分析儀 C/C+L/S+C+L/O 參考價：面議
BOSA 400 高分辨率光譜分析儀 C/C+L/S+C+L/O 產(chǎn)品總覽BOSA 的名稱來源于Brillouin +OSA，Aragon Photonics全...
BOSA 500 高分辨率光譜分析儀 O+S+C+L 參考價：面議
BOSA 500 高分辨率光譜分析儀 O+S+C+L產(chǎn)品總覽BOSA 的名稱來源于Brillouin +OSA，Aragon Photonics全光技術利用受激...
BOSA 100 高分辨率光譜分析儀 C/C+L/S+C+L/O 參考價：面議
BOSA 100 高分辨率光譜分析儀 C/C+L/S+C+L/O產(chǎn)品總覽BOSA 的名稱來源于Brillouin +OSA，Aragon Photonics全光...
HDCA 400 高清組件分析儀 參考價：面議
HDCA 400 高清組件分析儀 產(chǎn)品總覽Aragon Photonics 推出的新型高清元件分析儀 High Definition Component Ana...
Eigenlight Series 500在線光功率監(jiān)測器 參考價：面議
Eigenlight Series 500在線光功率監(jiān)測器產(chǎn)品總覽NeoPhotonics 的 Eigenlight Series 500 (S500) 是一款...
6362D光譜儀 參考價：面議
6362D光譜儀 產(chǎn)品總覽高分辨、大動態(tài)高速高性能的光譜分析儀，適用于600～1700nm光譜范圍的DWDM、光放大器等光系統(tǒng)測試；LED、FP-LD、DFB-...
6362C光譜儀 參考價：面議
6362C光譜儀產(chǎn)品總覽可測量可見光到近紅外波段，介于350nm至1200nm之間，具有高波長分辨率和寬動態(tài)范圍，可清晰表征光譜細節(jié)信息和精細還原光譜特征。應用...
6362E光譜儀 參考價：面議
6362E光譜儀 產(chǎn)品總覽基于衍射光柵分光技術的寬波長范圍的高速高性能光譜分析儀。1200～2400nm光譜范圍不僅覆蓋通信波長的波段，同時覆蓋 SWIR 區(qū)域...
INT05-N 邁克爾遜 PLX 單片干涉儀 (NIR FTIR 光譜儀的主要光學組件) 參考價：面議
INT05-N 邁克爾遜 PLX 單片干涉儀 (NIR FTIR 光譜儀的主要光學組件) 產(chǎn)品總覽INT05-N Ø0.50" NIR 單片邁克爾遜干...
超寬中紅外光束質(zhì)量分析儀(不帶M2測試，光敏面：15.3×12.2mm) 參考價：面議
超寬中紅外光束質(zhì)量分析儀(不帶M2測試，光敏面：15.3×12.2mm)產(chǎn)品描述：筱曉光子的紅外光束質(zhì)量分析儀，可以實現(xiàn)1.2-15μm范圍內(nèi)的光斑探...
超寬中紅外光束質(zhì)量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm) 參考價：面議
超寬中紅外光束質(zhì)量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm) 產(chǎn)品描述：筱曉光子的紅外光束質(zhì)量分析儀，可以實現(xiàn)1.2-15μm范圍內(nèi)的光斑探測...
BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 參考價：面議
BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應用連續(xù)激光的光束分析激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記錄...
FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)（觀察儀） 參考價：面議
FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)（觀察儀）應用：切割、修整、校正、 給半導體電路做標記薄膜(絕緣膜) 清潔與...
CUBE-ER100偏振消光比測試儀 參考價：面議
CUBE-ER100偏振消光比測試儀 總覽CUBE-ER100是一款基于旋轉偏振器的偏振消光比（PER）測量儀，適用于光纖和自由空間光學應用。由于其緊湊的尺寸和...
FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀） 參考價：面議
FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀）應用：切割、修整、校正、 給半導體電路做標記薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、...
BladeCam2-HR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150nm 參考價：面議
BladeCam2-HR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150nm產(chǎn)品應用連續(xù)激光的光束分析激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和...
BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 參考價：面議
BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm產(chǎn)品應用連續(xù)激光的光束分析激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試光學組裝和儀器校準光束漂...
BladeCam2-XHR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 參考價：面議
BladeCam2-XHR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應用連續(xù)激光的光束分析激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記...
Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業(yè)相機 (1460 x 1932) 參考價：面議
Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業(yè)相機 (1460 x 1932) 產(chǎn)品總覽這款柔性冷卻相機支持多種索尼CCD傳感器，滿足了大多數(shù)科學原始設備制造商和...
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振） 參考價：面議
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）特點采用Mitutoyo遠場校正鏡頭三端輸出設計可輕松接收視頻轉盤可接最多四個物鏡
FS70Z 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 固定光通比50/50 C-mount) （觀察 參考價：面議
FS70Z 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 固定光通比50/50 C-mount) （觀察鏡）特點采用Mitutoyo遠場校正鏡頭三端輸出設計可輕松接...
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