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SE-VM光譜橢偏儀
  • SE-VM光譜橢偏儀
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貨物所在地:遼寧沈陽市

更新時間:2024-10-09 16:40:11

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產品簡介:SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量,快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度,微光斑,可視化調平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置,多功能模塊定制化設計。

高精度橢偏測量解決方案;超高精度、快速無損測量;支持多角度、微光斑、可視化調平系統(tǒng)功能模塊靈活定制;豐富的數據庫和幾何結構模型庫,保證強大數據分析能力

 

產品型號

SE-VM光譜橢偏儀

主要特點

1、采用高性能進口復合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm)

2、高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置,實現Psi/Delta光譜數據高速采集

3、支持系列配置靈活,可根據不同應用場景支持多功能模塊化定制

4、數百種材料數據庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料

技術參數

1、自動化程度:手動變角

2、應用定位:通用型

3、基本功能:Psi/Delta、N/C/S、R/T等光譜

4、分析光譜380-1000nm(可擴至210-1650nm)

5、單次測量時間:0.5-5s

6、重復性測量精度:0.01nm

7、光斑大?。捍蠊獍?-3mm,微光斑200μm

8、入射角調節(jié)方式:手動變角

9、入射角范圍:55-75°(5°步進),90°

10、找焦方式:手動找焦

11、Mapping行程:不支持

12、支持樣件尺寸:大至180mm

可選配件

1

溫控臺

 

2

Mapping擴展模塊

 

3

真空泵

 

4

透射吸附組件

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